[发明专利]内部自检查电阻桥和方法有效
| 申请号： | 201010222804.8 | 申请日： | 2010-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN101943713A | 公开（公告）日： | 2011-01-12 |
| 发明（设计）人： | R·W··沃克 | 申请（专利权）人： | 弗卢克公司 |
| 主分类号： | G01R17/00 | 分类号： | G01R17/00;G01R35/00 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 陈松涛;夏青 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明的一个或者多个实施例涉及一种用于执行内部自检查的电阻桥测量电路。所述电阻桥测量电路可以包括一个或者多个内部电阻器。在一个实施例中，可以配置所述电阻桥测量电路以测量所述电阻器中的一个两端的第一电压以及所述两个电阻器的组合两端的第二电压。可以将所测量的电压转换为电阻比值并且将所述电阻比值与预期值进行比较。在另一实施例中，可以配置所述电阻桥测量电路以测量所述两个电阻器的另一个两端的第三电压以及所述两个电阻器的组合两端的第四电压。可以将所测量的电压转换为相应的电阻比值，对该相应的电阻比值求和并且将求和所得的值与预期值进行比较。 | ||
| 搜索关键词： | 内部 检查 电阻 方法 | ||
【主权项】：
一种电阻桥，包括：电流源；耦合到第二内部电阻器的第一内部电阻器，所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器耦合到所述电流源；耦合到所述第一内部电阻器和所述第二内部电阻器的测量电路，所述测量电路用于测量所述第一电阻器的第一电参数、所述第二电阻器的第二电参数、并且测量所述第一电阻器和所述第二电阻器的组合的第三电参数；以及耦合到所述测量电路的微处理器，所述微处理器用于使用所测量的第一电参数、所测量的第二电参数以及所测量的第三电参数确定所述电阻桥是否具有线性度。
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