[发明专利]光纤型弯曲参量的测定装置及方法无效

专利信息
申请号: 201010219537.9 申请日: 2010-06-21
公开(公告)号: CN101865665A 公开(公告)日: 2010-10-20
发明(设计)人: 杜兵;杜蔚;杜迎涛 申请(专利权)人: 西安金和光学科技有限公司
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16;G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 710075 陕西省西安*** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 发明公开了一种光纤型弯曲参量的测定装置及方法,是基于光纤微弯损耗变化的一种新型结构及方法,不仅可以大范围精确测定待测物体的弯曲曲率及变化,并可以做到能够同时测量弯曲的方向角度及其变化,使本发明的弯曲参量测定装置及方法具有广阔的使用范围;又由于本装置及方法是基于光纤的损耗基础上测定,而损耗测试是光纤测试中最成熟、最稳定、成本最低的技术,使本发明的装置及方法在应用成本上具有相当大的优势,并可利用时分技术、光时域反射技术(OTDR)及相干频率调制连续波技术(FMCW)可实现准分布式或分布式测量,为本发明的装置及方法的应用进一步提供了非常广阔的应用前景。
搜索关键词: 光纤 弯曲 参量 测定 装置 方法
【主权项】:
光纤型弯曲参量的测定装置,其特征在于:一个曲线形壳体以及沿曲线形壳体纵向连续布设在所述曲线形壳体内部相对两侧的多个A侧变形齿和多个B侧变形齿,曲线形壳体的两端固定于待测物体上,布设在曲线形壳体内部的A侧变形齿和B侧变形齿之间的相对位置随着待测物体弯曲曲率的变化而改变,所述A侧变形齿和B侧变形齿呈交错布设,且在二者的变形齿间夹有导光光纤,A侧变形齿和B侧变形齿对应布设在导光光纤两侧,导光光纤的延伸光纤与测试单元连接。
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