[发明专利]光纤型弯曲参量的测定装置及方法

权利要求书

1.光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：一个曲线形壳体以及沿曲线形壳体纵向连续布设在所述曲线形壳体内部相对两侧的多个A侧变形齿和多个B侧变形齿，曲线形壳体的两端固定于待测物体上，布设在曲线形壳体内部的A侧变形齿和B侧变形齿之间的相对位置随着待测物体弯曲曲率的变化而改变，所述A侧变形齿和B侧变形齿呈交错布设，且在二者的变形齿间夹有导光光纤，A侧变形齿和B侧变形齿对应布设在导光光纤两侧，导光光纤的延伸光纤与测试单元连接。

2.按照权利要求1所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：所述曲线形壳体内部相对两侧的多个A侧变形齿之间以及多个B侧变形齿之间的齿距是均匀的。

3.按照权利要求1所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：所述曲线形壳体内部相对两侧的多个A侧变形齿以及多个B侧变形齿的齿高是相同的。

4.按照权利要求1所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：所述的曲线形壳体是螺旋状、Z字状或平面卷簧状。

5.按照权利要求1所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：所述的曲线形壳体的A侧与B侧之间是通过弹性材料连接。

6.按照权利要求4所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：所述的平面卷簧状曲线形壳体的A、B侧是上下两层。

7.按照权利要求1至6任意一项所述的光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：在曲线形壳体内与第一个导光光纤并排有第二个导光光纤，以及连续布设在所述曲线形壳体内部相对两侧的第二组多个A侧变形齿和第二组多个B侧变形齿，第二组多个A侧变形齿和第二组多个B侧变形齿间夹有第二导光光纤，所述的第二组多个A侧变形齿和第二组多个B侧变形齿沿着曲线形壳体每360度为一个周期，每个周期的起始点位于曲线形壳体的同一个方向，并作为0度，每个周期内的变形齿的间距或齿高是单调变化的，且不同周期的变形齿的间距或齿高是单调变化趋势是一致的。

8.按照权利要求1至6任意一项所述的光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：在曲线形壳体内沿曲线形壳体纵向将该曲线形壳体分为两个部分，每个部分均分别有A、B两侧，并分别夹有第一个导光光纤和第二个导光光纤，夹持第二导光光纤的多个A侧变形齿和多个B侧变形齿沿着曲线形壳体每360度为一个周期，每个周期的起始点位于曲线形壳体的同一个方向，并作为0度，每个周期内的变形齿的间距或齿高是单调变化的，且不同周期的变形齿的间距或齿高是单调变化趋势是一致的。

9.按照权利要求1至6任意一项所述的光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：在曲线形壳体内有第二导光光纤，以及连续布设在所述曲线形壳体内部相对两侧的第二组多个A侧变形齿和第二组多个B侧变形齿，第二组多个A侧变形齿和第二组多个B侧变形齿间夹有第二导光光纤，所述的第二组多个A侧变形齿和第二组多个B侧变形齿沿着曲线形壳体每360度为一个周期，每个周期之间没有交叉，并将每个周期划分为相同数量的有限个区域，对应于曲线形壳体同一个方向的每个周期上的对应区域内的变形齿的间距或齿高是相同的。

10.按照权利要求1所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：在待测物体有一个以上的待测弯曲曲率时，并在相应的部位安置有两端固定于待测物体上的含导光光纤的曲线形壳体，且所述曲线形壳体中的导光光纤串联在一起。

11.按照权利要求1所述光纤型弯曲参量的测定装置，其特征在于：在待测物体有一个以上的待测弯曲曲率时，并在相应的部位安置有两端固定于待测物体上的含导光光纤的曲线形壳体，且所述曲线形壳体中的导光光纤通过光分路器连接至测试单元。