[发明专利]一种采用MIT技术与SPR技术相结合检测克伦特罗的方法无效
申请号: | 201010204510.2 | 申请日: | 2010-06-21 |
公开(公告)号: | CN101881768A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
发明(设计)人: | 韦天新;孟慧娟 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
主分类号: | G01N33/53 | 分类号: | G01N33/53;G01N21/41 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明涉及一种采用MIT技术与SPR技术相结合检测克伦特罗的方法,属于克伦特罗检测领域。本发明的方法首先利用热聚合方法在金膜基底上制备克伦特罗分子印迹聚合物膜,用洗脱液除去模板分子,得到克伦特罗分子印迹传感芯片;然后计算不同浓度的克伦特罗标准溶液与传感芯片反应后与吸附前引起的SPR共振角的位移值Δθ,建立Δθ与克伦特罗标准溶液浓度值的负对数的标准曲线;最后根据待测样品与传感芯片发生吸附反应前后引起SPR共振角的位移值Δθ,在标准曲线上读出对应的克伦特罗含量;本发明的方法具有抗恶劣环境、选择性高、响应快速,操作简便的特点,不仅提高了方法的灵敏度和检测限,也相应地降低了检测成本。且对与克伦特罗具有相似结构的沙丁胺醇几乎没有吸附。 | ||
搜索关键词: | 一种 采用 mit 技术 spr 相结合 检测 克伦特罗 方法 | ||
【主权项】:
一种采用MIT技术与SPR技术相结合检测克伦特罗的方法,其特征在于具体步骤如下:1)首先在光学盖玻片上通过真空蒸镀法或溅射法镀上一层20~100nm的金膜,以此作为金膜基底;2)将功能单体与克伦特罗溶解在溶剂中,预聚合1-5h;3)向第2)步得到的反应液中加入交联剂和引发剂,超声5~10min后通氮气除氧5~10min;4)用乙醇淋洗硅烷化载玻片,并用氮气吹干,再用封口膜紧粘在硅烷化载玻片的表面,然后在封口膜的中间区域加工出空白区域,作为成膜区域,得到附有支撑膜的硅烷化载玻片,载玻片上剩余的封口膜作为支撑膜;5)取第3)步得到的反应液滴加到附有支撑膜的硅烷化载玻片上,使反应液充满成膜区域,盖上金膜基底并夹紧固定使二者中间没有气泡,放入密闭反应器中,在氮气保护下,55~70℃温度下加热反应3.5~24小时;6)加热结束后将载玻片与金膜基底分开,分子印迹聚合物膜附着在金膜基底上,晾干后用洗脱液进行洗脱金膜基底的分子印迹聚合物膜,得到克伦特罗分子传感印迹芯片;7)将第6)步制备的克伦特罗分子印迹传感芯片固定在表面等离子体共振检测仪上,将溶剂流过传感芯片,待仪器显示反射光强达到稳定不变时,对反射光强按角度进行扫描,记录下SPR光谱图;8)将克伦特罗固体加入溶剂定容,制备不同浓度的克伦特罗标准溶液,按照由低浓度到高浓度的顺序,分别流过传感芯片;每次流入克伦特罗标准液时与传感芯片反应1-15min,然后流过溶剂,对反射光强按角度进行扫描,记录下此浓度的克伦特罗标准液与传感芯片发生吸附反应后的SPR光谱图,直到得到各个浓度的克伦特罗标准溶液与传感芯片反应后的SPR光谱图;9)分别将第8)步得到的不同浓度的克伦特罗标准溶液与传感芯片反应后的SPR光谱图与第7)步得到吸附克伦特罗标准溶液前的SPR光谱图进行比较,计算各浓度下吸附反应前后引起的SPR共振角的位移值Δθ;10)以SPR共振角的位移值Δθ为纵坐标,以加入的克伦特罗标准溶液浓度值的负对数作为横坐标绘制标准曲线;11)根据待测样品与洗脱后的克伦特罗分子印迹芯片发生吸附反应前后引起SPR共振角的位移值Δθ,在第10)步得到的标准曲线上读出对于克伦特罗的含量;其中,克伦特罗与功能单体及交联剂之间的摩尔比为1∶2~10∶4~20;引发剂与克伦特罗之间的摩尔比为1∶2~8;所述的功能单体选自如下任意一种化合物:丙烯酸、甲基丙烯酰胺、甲基丙烯酸、三氟甲基丙烯酸、甲基丙烯酸甲酯、亚甲基丁二酸;所述的溶剂选自如下任意一种或两种化合物:二氯甲烷、三氯甲烷、甲醇、乙腈、N,N-二甲基甲酰胺、砜类化合物或杂环类化合物;所述的引发剂选自下列任意一种化合物:偶氮二异丁腈、偶氮二异庚腈、2,2-偶氮-双(2,4-二甲基戊腈)或过氧化苯甲酰;所述的交联剂选自如下任意一种化合物:乙二醇二甲基丙烯酸酯、N,N-亚甲基二丙烯酰胺、季戊四醇三丙烯酸酯、季戊四醇四丙烯酸酯、三羟甲基丙烷三甲基丙烯酸醋或二乙烯基苯;所述的洗脱液为乙酸与有机溶剂按1∶1~50的体积比混合,或水、乙酸与有机溶剂的体积比为1∶1~10∶1~500;所述的有机溶剂为甲醇或乙腈。
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