[发明专利]波形测试装置及其使用方法无效
申请号: | 201010198466.9 | 申请日: | 2010-06-11 |
公开(公告)号: | CN102279355A | 公开(公告)日: | 2011-12-14 |
发明(设计)人: | 田钧元 | 申请(专利权)人: | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/26 | 分类号: | G01R31/26;G01R13/00;G01R1/073 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 518109 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种波形测试装置及其使用方法,该波形测试装置包括一电路板、一示波器及若干接地装置,该电路板上设置有一接地面,该示波器包括若干探针,每一探针均包括一接地端,每一接地装置包括一接地部及一缠绕部,所述缠绕部一端套设在与其相应的接地端上,另一端连接至接地部上,所述接地部依次串接在一起,最后一接地部焊接至所述接地面上,使得所述接地端共地设置。 | ||
搜索关键词: | 波形 测试 装置 及其 使用方法 | ||
【主权项】:
一种波形测试装置,包括一电路板及一示波器,该电路板上设置有一接地面,该示波器包括若干探针,每一探针均包括一接地端,其特征在于:所述波形测试装置还包括若干接地装置,每一接地装置包括一接地部及一缠绕部,所述缠绕部一端套设在与其相应的接地端上,另一端连接至接地部上,所述接地部依次串接在一起,最后一接地部焊接至所述接地面上,使得所述接地端共地设置。
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