[发明专利]波形测试装置及其使用方法无效

专利信息
申请号: 201010198466.9 申请日: 2010-06-11
公开(公告)号: CN102279355A 公开(公告)日: 2011-12-14
发明(设计)人: 田钧元 申请(专利权)人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R13/00;G01R1/073
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518109 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种波形测试装置及其使用方法,该波形测试装置包括一电路板、一示波器及若干接地装置,该电路板上设置有一接地面,该示波器包括若干探针,每一探针均包括一接地端,每一接地装置包括一接地部及一缠绕部,所述缠绕部一端套设在与其相应的接地端上,另一端连接至接地部上,所述接地部依次串接在一起,最后一接地部焊接至所述接地面上,使得所述接地端共地设置。
搜索关键词: 波形 测试 装置 及其 使用方法
【主权项】:
一种波形测试装置,包括一电路板及一示波器,该电路板上设置有一接地面,该示波器包括若干探针,每一探针均包括一接地端,其特征在于:所述波形测试装置还包括若干接地装置,每一接地装置包括一接地部及一缠绕部,所述缠绕部一端套设在与其相应的接地端上,另一端连接至接地部上,所述接地部依次串接在一起,最后一接地部焊接至所述接地面上,使得所述接地端共地设置。
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