[发明专利]一种字线缺陷的侦测装置与方法无效
申请号: | 201010198361.3 | 申请日: | 2010-06-08 |
公开(公告)号: | CN101882471A | 公开(公告)日: | 2010-11-10 |
发明(设计)人: | 陈伟仁;陈和颖;杨连圣;吴书仁 | 申请(专利权)人: | 钰创科技股份有限公司 |
主分类号: | G11C29/00 | 分类号: | G11C29/00 |
代理公司: | 北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006 | 代理人: | 梁挥;祁建国 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开一种侦测字线缺陷的方法,包含启动一第一字线以读取一预先储存于该存储单元的第一数据;以一预定时间,使该第一字线处于悬浮状态,然后写入与该第一数据互补的一第二数据至该存储单元;再度启动该第一字线,以从该存储单元读取一第三数据,以及比较该第二数据与该第三数据以判断该第一字线与一第二字线之间是否存在一电性连接路径。 | ||
搜索关键词: | 一种 缺陷 侦测 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种字线缺陷的侦测装置,其特征在于,包含:一第一字线耦接于至少一存储单元;一第二字线设置相邻于该第一字线;以及一控制器耦接于该第一字线与该第二字线,该控制器先启动该第一字线以读取一预先储存于该存储单元中的第一数据,该控制器再以一预定时间,使该第一字线处于悬浮状态,然后写入一与该第一数据互补的一第二数据至该存储单元,然后该控制器再次启动该第一字线以从该存储单元读取出一第三数据,并比较该第三数据与该第二数据以判断该第一字线与该第二字线之间是否存在一电性连接路径。
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