[发明专利]测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置

摘要

本发明涉及测量保偏光纤和双折射介质的分布式偏振串扰方法及装置，属于光学测量技术领域；该方法包括耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质，产生两个正交偏振模传输的信号；使两个正交偏振模之间产生延迟，从而输出一个调制光输出信号；再使得两正交偏振模相互混合；并使两正交偏振模之间的干涉；处理获得的干涉信号来识别光学双折射介质两正交偏振模之间偏振耦合的位置。该装置包括线性光源、光学延迟器、线性光学起偏器、光学干涉仪和处理器。采用此方法和装置可以抑制重影干涉峰数目和幅度，并可获得高测量灵敏度、宽动态范围和高空间测量精度。

主权项

一种测量光学双折射介质偏振串扰分布的方法，其特征在于，包括以下步骤：耦合一个具有宽光谱的线性偏振光进入光学双折射介质，沿由于光学双折射引起的光学双折射介质的两个正交偏振模传输，从光学双折射介质产生光学输出信号；使光学双折射介质的光输出信号进入一个光学延迟器，使两个正交偏振模之间产生延迟，该延迟大于由光学双折射介质引起的两个正交偏振模之间光程的延迟，从而输出一个调制光输出信号；使所述调制光输出信号经过一个沿某个方向起偏的线性光学起偏器，使得经过起偏器传输光的两正交偏振模相互混合；使透过起偏器的光进入一个光学干涉仪获得光学双折射介质两正交偏振模之间的干涉；处理获得的干涉信号来识别光学双折射介质两正交偏振模之间偏振耦合的位置。