[发明专利]基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像方法和系统无效
| 申请号： | 201010190028.8 | 申请日： | 2010-05-28 |
| 公开（公告）号： | CN101866056A | 公开（公告）日： | 2010-10-20 |
| 发明（设计）人： | 王焕钦;徐军;何德勇;赵天鹏;明海 | 申请（专利权）人： | 中国科学院合肥物质科学研究院 |
| 主分类号： | G02B27/22 | 分类号： | G02B27/22 |
| 代理公司： | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人： | 何梅生 |
| 地址： | 230031 安徽*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像方法和系统，采用二维LED阵列作为照明光源，每次仅有一颗LED为点亮状态，LED发射的调制光经投影透镜投射到目标的表面，光电接收器接收目标表面的散射光，测量从光源到目标之间的往返飞行时间，并由其得出点亮状态的LED深度像素值，完成单个LED深度像素值测量；再时分扫描整个二维LED阵列，重复单个LED深度像素值的测量过程，获得全部LED深度像素值并组合生成目标的深度图像；同时目标表面的散射光经二维成像透镜后由二维图像传感器获得目标二维图像；投影透镜和二维成像透镜为同一透镜；以二维图像和深度图像融合生成目标三维图像。本发明深度图像获取速度快，深度测量分辨率高。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 led 阵列 透镜 tof 深度 测量 三维 成像 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种基于LED阵列共透镜TOF深度测量的三维成像方法，其特征在于：采用光功率调制的二维LED阵列作为照明光源，每次仅有所述二维LED阵列中的一颗LED为点亮状态，所述LED发射的调制光经投影透镜投射到目标(1)的表面，用光电接收器(6)接收所述目标(1)表面的散射光，测量从光源到目标(1)之间的往返飞行时间TOF，依据所述往返飞行时间TOF计算得出所述点亮状态的LED的深度像素值，完成单个LED深度像素值的测量；时分扫描整个二维LED阵列，重复所述单个LED深度像素值的测量过程，获得全部LED深度像素值并组合生成目标(1)的深度图像；同时，目标(1)表面的散射光经二维成像透镜后由二维CCD/CMOS图像传感器(9)接收，获得目标(1)的二维图像；设置所述投影透镜和二维成像透镜为同一透镜(2)，使深度图像和二维图像实时对准；将所述二维图像和深度图像融合生成目标(1)的三维图像。
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