[发明专利]非球面体测量方法以及装置无效

专利信息
申请号: 201010189156.0 申请日: 2010-05-24
公开(公告)号: CN101922920A 公开(公告)日: 2010-12-22
发明(设计)人: 葛宗涛;孙萍 申请(专利权)人: 富士能株式会社
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 刘建
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种非球面体测量方法及装置,即使在成为测量对象的非球面体不具有锷状的平面部的情况下,也能够高精度测量面偏差以及面偏斜。通过使用第1干涉仪(1A)和第2干涉仪(1B)的光干涉仪测量,求出非球面透镜(9)的第1透镜面(91)以及第2透镜面(92)的各中心部的形状数据,根据各自的形状数据,在第1测量坐标系中求出第1透镜面(91)的第1脐点(P1)、第1曲率中心以及第1轴线的各位置数据,并且在第2测量坐标系中求出第2透镜面(92)的第2脐点(P2)、第2曲率中心以及第2轴线的各位置数据。基于这些各位置数据、第1测量坐标系以及第2测量坐标系的相对位置关系,求出非球面透镜(9)的面偏差以及面偏斜。
搜索关键词: 球面 测量方法 以及 装置
【主权项】:
一种非球面体测量方法,对非球面体的面偏差及面偏斜进行测量,该非球面体通过具有由旋转对称的非球面构成的第1被测面及第2被测面而成,其特征在于,所述非球面体测量方法通过包括以下步骤作为测量工序而成:第1干涉条纹取得步骤,使用第1干涉仪对所述第1被测面的中心部照射第1测量光,且取得由该第1测量光的来自该第1被测面的返回光和第1参照光之光干涉所形成的第1干涉条纹的图像数据;第2干涉条纹取得步骤,使用第2干涉仪对所述第2被测面的中心部照射第2测量光,且取得由该第2测量光的来自该第2被测面的返回光和第2参照光之光干涉所形成的第2干涉条纹的图像数据;第1形状数据取得步骤,基于所述第1干涉条纹的图像数据,在所述第1干涉仪所设定的第1测量坐标系中,求出所述第1被测面的中心部的形状数据即第1形状数据;第2形状数据取得步骤,基于所述第2干涉条纹的图像数据,在所述第2干涉仪所设定的第2测量坐标系中,求出所述第2被测面的中心部的形状数据即第2形状数据;第1轴线数据取得步骤,基于所述第1形状数据,在所述第1测量坐标系中,求出所述第1被测面的脐点即第1脐点的位置数据、该第1脐点中的该第1被测面的曲率中心即第1曲率中心的位置数据、通过该第1脐点及该第1曲率中心的第1轴线的位置数据;第2轴线数据取得步骤,基于所述第2形状数据,在所述第2测量坐标系中,求出所述第2被测面的脐点即第2脐点的位置数据、该第2脐点中的该第2被测面的曲率中心即第2曲率中心的位置数据、通过该第2脐点及该第2曲率中心的第2轴线的位置数据;面偏差、面偏斜分析步骤,基于在所述第1轴线数据取得步骤及所述第2轴线数据取得步骤中所求出的各位置数据、和预先所确定的所述第1测量坐标系与所述第2测量坐标系的相对位置关系,求出所述面偏差及所述面偏斜。
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