[发明专利]一种调校治具有效
申请号: | 201010166701.4 | 申请日: | 2010-04-23 |
公开(公告)号: | CN102236197A | 公开(公告)日: | 2011-11-09 |
发明(设计)人: | 出永川;林峻宏;林世宗;陈忠翔 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | G02F1/1333 | 分类号: | G02F1/1333 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 周国城 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明公开了一种调校治具,至少包括第一、第二、第三柱状型刻度器,第二柱状型刻度器设置于相对第一柱状型刻度器的位置,第三柱状型刻度器设置于第一和第二柱状型刻度器之间且位于两者的后方处;其中第一、第二和第三柱状型刻度器具有相同规格的刻度指针,当调校治具置放于一平台上时,可配合一线性检测源以量测平台的一水平位置。在一应用例中,调校治具可包括四组柱状型刻度器。通过调整平台,使检测源的直线光落在该些组柱状型刻度器上的刻度指标一致,以使传送手臂和平台达到一相对水平状态。 | ||
搜索关键词: | 一种 调校 | ||
【主权项】:
一种调校治具,其特征在于,至少包括:一第一柱状型刻度器;一第二柱状型刻度器,设置于相对该第一柱状型刻度器的位置;和一第三柱状型刻度器,设置于该第一和该第二柱状型刻度器之间且位于两者的后方处;其中,该第一、该第二和该第三柱状型刻度器具有相同规格的刻度指针,当该调校治具置放于一平台(Stage)上时,可配合一线性检测源以量测该平台的一水平位置。
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