[发明专利]数字接口射频芯片测试方法、装置和系统有效
| 申请号： | 201010158610.6 | 申请日： | 2010-04-27 |
| 公开（公告）号： | CN101846726A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | 李志俊;李俊鸿 | 申请（专利权）人： | 广州市广晟微电子有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人： | 逯长明 |
| 地址： | 510630 广东省广州市天*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例公开了一种数字接口射频芯片测试方法、装置和系统。可以为数字接口射频芯片提供测试所需的初始数据，并对数字接口射频芯片返回的数据进行采集和分析，同时可以根据初始数据中的接收或发送控制字，为数字接口射频芯片直接提供控制信号，使得在进行收发测试分析时，无需信号发生器和逻辑分析仪，也无需频繁的插拔数字接口射频芯片的接口进行接收、发送的切换，保护了射频芯片的数字接口，使测试能够快速连续的进行，简化了测试装置，降低了测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 接口 射频 芯片 测试 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
一种数字接口射频芯片测试方法，其特征在于，包括：信号生成单元根据测试信号数据生成初始数据并发送到信号收发单元，所述初始数据的高位为接收或发送控制字；信号收发单元接收所述初始数据并存储在存储单元中；信号收发单元接收信号生成单元发送的收发工作指令，并根据所述初始数据的接收或发送控制字，向数字接口射频芯片发送控制信号；信号收发单元与射频芯片同步进入相应的发送状态或接收状态；当信号收发单元处于发送状态时，将所述初始数据发送到数字接口射频芯片；当信号收发单元处于接收状态时，接收数字接口射频芯片的返回信号并存储在存储单元中。
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