[发明专利]具有各种发射器检测器结构的反射编码器无效
| 申请号： | 201010154210.8 | 申请日： | 2006-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN101852625A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 陈日隆;傅相隆;王文飞;塞弗·巴哈里·宾·赛丹;谭城万;叶维金 | 申请（专利权）人： | 安华高科技ECBUIP(新加坡)私人有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/347 | 分类号： | G01D5/347 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 柳春雷;南霆 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本发明涉及具有各种发射器检测器结构的反射编码器。一种光学编码器包括：发射器，其适于发射光，所发射的光被导向码尺以及索引码尺以发生反射；检测器，其适于检测从码尺反射的光；索引检测器，其适于检测从索引码尺反射的光；密封体，其封装发射器、检测器以及索引检测器，所述密封体形成双穹顶表面，其中，一个穹顶表面在发射器及检测器上方，另一个穹顶表面在索引检测器上方，其中，发射器位于检测器与索引检测器之间，检测器和索引检测器包括多个细长形光电二极管，每个细长形光电二极管具有与其细长尺度方向平行的第一轴线，检测器和索引检测器的第一轴线彼此平行。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 各种 发射器 检测器 结构 反射 编码器 | ||
【主权项】：
一种光学编码器，包括：发射器，其适于发射光，所发射的光被导向码尺以及索引码尺以发生反射；检测器，其适于检测从所述码尺反射的光；索引检测器，其适于检测从所述索引码尺反射的光；以及密封体，其封装所述发射器、所述检测器以及所述索引检测器，所述密封体形成双穹顶表面，其中，一个穹顶表面在所述发射器及所述检测器上方，另一个穹顶表面在所述索引检测器上方，其中，所述发射器位于所述检测器与所述索引检测器之间，其中，所述检测器和所述索引检测器包括多个细长形光电二极管，每个细长形光电二极管具有与其纵长方向平行的第一轴线，所述检测器和所述索引检测器的所述第一轴线彼此平行。
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