[发明专利]具有结构化模型的集成电路设计验证方法无效
| 申请号： | 201010149157.2 | 申请日： | 2010-04-07 |
| 公开（公告）号： | CN101840450A | 公开（公告）日： | 2010-09-22 |
| 发明（设计）人： | 黄瑞华;连志斌;谢峥;杨伟才;张国栋;苏世祥;刘芳 | 申请（专利权）人： | 连志斌 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 深圳市百瑞专利商标事务所(普通合伙) 44240 | 代理人： | 金辉 |
| 地址： | 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种具有结构化模型的集成电路设计验证方法，包括：把多份对设计规格书分别进行独立结构化分析得到的结构化资源记录使用海图覆盖模型的方法整合，获得覆盖所述设计规格书的完整结构化资源；检查其是否全部能够连接，并报告和修复其中不能连接的部分；还检查完整结构化资源中各部分之间是否有重复，并删除其中重复的部分；同时还利用测点状态统计模型检查所有测点对应的测试激励能否产生，如果不能够产生，则提供覆盖测试方案；再对所述完整结构化资源进行资源提取映射计算，产生结构化的验证平台，验证平台进行验证。本发明从分析设计得出的结构化资源自动映射出验证平台，能提高验证效率，节省重复性的工作，实现了验证自动化。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 结构 模型 集成电路设计 验证 方法 | ||
【主权项】：
具有结构化模型的集成电路设计验证方法，其特征在于，包括如下步骤：第一步，把多份对设计规格书/需求书分别进行独立结构化分析得到的结构化资源记录使用海图覆盖模型的方法整合，获得覆盖所述设计规格书/需求书的完整结构化资源；第二步，检查所述完整结构化资源，并删除其中重复的部分；同时还利用测点状态统计模型检查所有测点对应的测试激励能否产生，如果不能够产生，则提供覆盖测试方案；第三步，对所述完整结构化资源进行资源提取映射计算，产生结构化的验证平台，所述验证平台进行验证。
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