[发明专利]测试装置、测试方法和程序无效
| 申请号： | 201010129575.5 | 申请日： | 2010-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN101853706A | 公开（公告）日： | 2010-10-06 |
| 发明（设计）人： | 近田慎一郎 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G11C29/08 | 分类号： | G11C29/08;G11C29/10 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 周少杰 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 一种测试装置，包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述原始测试矢量数据生成生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较输入信号的故障出现率与所述随机数数据。当所述随机数数据小于输入信号的故障出现率时，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率时，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。 | ||
| 搜索关键词： | 测试 装置 方法 程序 | ||
【主权项】：
一种测试装置，包括：矢量存储器单元，存储其中描述要输入到经历检查的电路的输入信号的原始测试矢量数据；矢量生成器，从所述矢量存储器单元中存储的原始测试矢量数据生成不同于所述原始测试矢量数据的生成的测试矢量数据；输出部分，输出要输入经历检查的电路的测试矢量数据；故障出现率存储器单元，存储在所述原始测试矢量数据中描述的输入信号的故障出现率；随机数生成器，生成随机数数据；以及比较部分，比较所述故障出现率存储器单元中存储的输入信号的故障出现率与所述随机数数据；其中在所述随机数数据小于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出生成的测试矢量数据，并且在所述随机数数据大于输入信号的故障出现率的情况下，矢量输出部分输出原始测试矢量数据。
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