[发明专利]测量装置、再现装置和测量方法无效
申请号: | 201010129367.5 | 申请日: | 2010-03-03 |
公开(公告)号: | CN101833958A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 东野哲 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G11B7/005 | 分类号: | G11B7/005;G01R31/28;H03L7/08 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 黄小临 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 一种测量装置包括移动平均计算部分和收敛判断部分。该移动平均计算部分通过输入在输入信号的相位和目标相位之间的相位误差来计算移动平均,该相位误差是通过锁相环电路检测的。该收敛判断部分当移动平均的绝对值等于或大于第一阈值时,判断锁相环电路不收敛,并且当移动平均的绝对值小于第一阈值时,判断锁相环电路收敛。 | ||
搜索关键词: | 测量 装置 再现 测量方法 | ||
【主权项】:
一种测量装置,包括:移动平均计算部件,用于通过输入在输入信号的相位和目标相位之间的相位误差来计算移动平均,该相位误差是通过锁相环电路检测的;以及收敛判断部件,用于当移动平均的绝对值等于或大于第一阈值时,判断锁相环电路不收敛,并且当移动平均的绝对值小于第一阈值时,判断锁相环电路收敛。
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