[发明专利]铁损测试探头磁感应强度波形控制装置及其控制方法无效

专利信息
申请号: 201010116180.1 申请日: 2010-03-02
公开(公告)号: CN101806843A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 顾伟驷;苏英俩;余佩琼;杭亮 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R21/08
代理公司: 杭州君易知识产权代理事务所 33223 代理人: 陈向群
地址: 310014 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明涉及一种硅钢片铁心损耗测量技术领域,特别是涉及一种铁损测试仪中测试探头磁感应强度波形控制装置及其控制方法,所述控制装置包括测试探头、微控制器、数模转换器、功率放大电路、模数转换器和信号处理电路,其特征在于所述微控制器分别与数模转换器和模数转换器器相连接,所述测试探头位于功率放大电路和信号处理电路之间,所述测试测试探头由初级线圈和次级线圈构成,其中初级线圈串接在功率放大器与模拟地之间,次级线圈串接在信号处理电路相接与模拟地之间,所述微控制器的工作程序采用C语言编制,具有结构简单、使用方便、有效地保证磁感应强度为正弦的控制装置及其控制方法。
搜索关键词: 测试 探头 感应 强度 波形 控制 装置 及其 方法
【主权项】:
铁损测试仪中测试探头磁感应强度波形控制装置,包括测试探头、微控制器、数模转换器、功率放大电路、模数转换器和信号处理电路,其特征在于所述微控制器分别与数模转换器和模数转换器器相连接,所述测试探头位于功率放大电路和信号处理电路之间,所述测试测试探头由初级线圈和次级线圈构成,其中初级线圈串接在功率放大器与模拟地之间,次级线圈串接在信号处理电路相接与模拟地之间,所述微控制器的工作程序采用C语言编制。
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