[发明专利]精密测量轴承套圈沟位置的接触式测量方法有效
申请号: | 201010105348.9 | 申请日: | 2010-02-01 |
公开(公告)号: | CN101750007A | 公开(公告)日: | 2010-06-23 |
发明(设计)人: | 宋晓波;朱孔敏;刘金秀;江纯清;李国斌;张慧 | 申请(专利权)人: | 洛阳轴研科技股份有限公司 |
主分类号: | G01B7/00 | 分类号: | G01B7/00 |
代理公司: | 洛阳市凯旋专利事务所 41112 | 代理人: | 符继超 |
地址: | 471039 河*** | 国省代码: | 河南;41 |
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摘要: | 一种精密测量轴承套圈沟位置的接触式测量方法是先设置工作台(1)和V型槽台(2),V型槽台安装挡板(7),沟位测量支架(5)沿挡板上下移动并通过锁紧螺钉(6)固定,沟位测量支架的悬臂端固定一半径R的标准球(4)。微调标准球与设在V型槽台的标准圆柱棒轴向母线重合,在标准球上方固定一水平移动的电感传感器(8),取已测宽度为H的被测套圈(3)并放在V型槽台,假定标准球与被测套圈A端面相切测得沟道圆弧中心距LA,标准球与被测套圈B端面相切测得沟道圆弧中心距LB,由此得到被测套圈沟位置尺寸修正值E并存入计算机用于其它待检同批次被测套圈任意端面至该沟道圆弧的实际沟位置尺寸是W任’=W任-E=L任-R-E。 | ||
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【主权项】:
一种精密测量轴承套圈沟位置的接触式测量方法,其特征在于:先在轮廓仪上放置具有半圆弧槽的工作台(1),在半圆弧槽工作台上端设置V型槽台(2),V型槽台(2)既可沿工作台(1)的半圆弧槽旋转又可沿工作台半圆弧槽长度方向水平移动,在V型槽台(2)左端安装有挡板(7),挡板(7)中间垂直方向开有直槽,挡板直槽的垂直中心线与V型槽台的V型槽中心线重合,沟位测量支架(5)可沿挡板(7)的直槽上下移动并通过锁紧螺钉(6)使其固定在挡板(7)上,在沟位测量支架(5)的悬臂端固定一测量半径为R的标准球(4),标准球(4)的中心线与V型槽台(2)的V型槽中心线重合;测量前沿V型槽台的V型槽长内放置一标准圆柱棒,微调工作台(1)或是V型槽台(2)使固定在沟位测量支架(5)上的标准球(4)最低点与标准圆柱棒的轴向母线重合,同时在标准球(4)的上方固定一可水平左右移动的电感传感器(8),水平左右移动的电感传感器测针同样与标准圆柱棒的轴向母线重合,微调后撤去标准圆柱棒,取一个已测宽度为H的被测套圈(3)并放在V型槽台(2)的V型槽中,被测套圈(3)的两个径向端面预先标记有A端面和B端面,假定被测套圈(3)的A端面接触标准球(4),通过沟位测量支架(5)在挡板(7)直槽的上下移动使标准球(4)与被测套圈(3)的A端面相切,然后通过锁紧螺钉(6)固定住沟位测量支架(5),标准球(4)与被测套圈(3)的A端面相对位置就被确定;接触式测量时将电感传感器(8)测针从标准球(4)左侧开始沿标准球母线轮廓水平向右移动直到被测套圈(3)整个沟道圆弧的右端沟槽为止进行扫描测量,电感传感器(8)把扫描测量的数据反馈给计算机可得到标准球(4)和被测套圈A端面至被测套圈整个沟道圆弧的中心距LA,所述中心距LA减去标准球半径R后得到被测套圈A端面至被测套圈整个沟道圆弧的位置尺寸WA=LA-R,然后将被测套圈(3)反转180°后放置在V型槽台(2)的V型槽中,此时标准球(4)与被测套圈(3)的B端面相切,重复上述电感传感器(8)测针的扫描测量过程,得到标准球(4)和被测套圈B端面被测套圈整个沟道圆弧的中心距LB,所述中心距LB减去标准球半径R后得到被测套圈B端面至被测套圈整个沟道圆弧的位置尺寸WB=LB-R,在被测套圈宽度H已测的情况下,可得到被测套圈沟位置尺寸的修正值E=(WA+WB-H)/2,在修正值E的前提下被测套圈A端面至被测套圈整个沟道圆弧的实际沟位置尺寸是WA’=WA-(WA+WB-H)/2,在修正值E的前提下被测套圈B端面至被测套圈整个沟道圆弧的实际沟位置尺寸是WB’=WB-(WA+WB-H)/2;由于同批次被测套圈的基本尺寸没有发生改变,所以对上述被测套圈的接触式测量沟位置尺寸的修正值E可存入计算机测量程序的数据表中用于其它待检的同批次被测套圈,将其它待检的同批次被测套圈放在V型槽台的V型槽中,此时可不在标记同批次被测套圈的两个径向端面,只要将同批次被测套圈的任意一个端面接触标准球并与标准球相切,所测得的沟道圆弧的位置尺寸W任=L任-R,在已知同批次被测套圈宽度H和所存入计算机修正值E的情况下可得到同批次被测套圈任意一个端面至该沟道圆弧的实际沟位置尺寸是W任’=W任-E=L任-R-E。
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