[发明专利]一种电路机内测试的虚警仿真方法

摘要

本发明公开了一种电路机内测试的虚警仿真方法，包括以下几个步骤，步骤一：建立虚警仿真剖面模型；步骤二、建立虚警诱发事件的子电路模型；步骤三、虚警诱发事件的接入；步骤四、进行虚警仿真；步骤五、虚警仿真结果分析；本发明通过建立虚警仿真剖面模型、虚警诱发事件以及事件受时间控制接入到电路BIT的仿真模型中，完成虚警的仿真分析，既可以用于电路设计研究的虚警抑制能力分析、虚警机理分析，也可用于电路使用阶段的事后虚警分析，进行虚警复现；本发明对提高电路的BIT防虚警设计能力具有重要应用价值，并弥补了目前只能依赖试验和使用发现和评估BIT虚警、缺少仿真分析手段的不足。

主权项

一种电路机内测试的虚警仿真方法，其特征在于，包括以下几个步骤：步骤一：建立虚警仿真剖面模型；1)、设定运行剖面模型和虚警仿真剖面模型的组成；(1)运行剖面模型的组成；运行剖面模型PM为：PM＝(D，HT，EL，tM)(1)式中：D——运行剖面模型中的扰动集合，D＝{di|i＝1～n}，di为电路运行中受到的第i次扰动；n为扰动的总次数；HT——扰动的发生时间集合，HT＝{(hti，cti)|i＝1～n}，hti为第i个扰动的开始时间；cti为第i个扰动的持续时间；EL——扰动对电路的影响位置集合，EL＝{eli|i＝1～n}，eli表第i个扰动在电路中的具体影响位置；tM——运行剖面模型对应的任务时长；(2)虚警仿真剖面模型的组成；虚警仿真剖面模型PFA为：PFA＝(E，T，L，tS)(2)式中：E——虚警诱发事件集合，E＝{ej|j＝1～h}，ej表示集合中的第j个虚警诱发事件；h表示虚警仿真剖面模型中包含的虚警诱发事件数量；e＝(y，m，S)，y表示虚警诱发事件类型；m表示虚警诱发事件的模拟方式；S表示虚警诱发事件的事件参数集合；T——时间值集合，T＝{(rtj，otj)|j＝1～h}，rtj表示第j个虚警诱发事件的接入时间值；otj表示第j个虚警诱发事件的退出时间值；L——接入点集合，L＝{lj|j＝1～h}，lj表示第j个虚警诱发事件接入到电路中的位置；tS——虚警仿真剖面模型对应的仿真时长；2)、根据运行剖面模型建立虚警仿真剖面模型；a、根据运行剖面模型中的扰动确定虚警仿真剖面模型中的虚警诱发事件；运行剖面模型中的每次扰动，都建立一个对应的虚警诱发事件，确定虚警诱发事件的事件类型、模拟方式以及事件参数；b、根据扰动的影响位置确定虚警诱发事件的接入点；运行剖面模型中扰动的影响位置是扰动引入到电路中的位置，在电路模型的对应位置接入虚警诱发事件，则在电路模型中的确定了虚警诱发事件的接入点；c、根据运行剖面模型中的时间参数确定虚警仿真剖面模型中的时间参数；根据运行剖面模型中的任务时长、扰动开始时间、扰动持续时间，通过时间压缩，确定出对应的虚警仿真剖面模型中的仿真时长、虚警诱发事件的接入时间、虚警诱发事件的退出时间； 对任务时长进行时间压缩，降低仿真的时间消耗；d、对虚警仿真剖面模型的进行整体描述；在确定了虚警仿真剖面模型的诱发事件、接入点、以及事件参数之后，需要对虚警仿真剖面模型进行整体描述；整体描述综合了运行剖面模型和虚警仿真剖面模型，描述内容为：运行剖面模型包括任务时长、扰动、扰动开始时间、扰动持续时间、扰动影响位置；虚警仿真剖面模型包括仿真时长、事件编号、事件类型、事件模拟方式、事件参数、接入时间、退出时间、接入点；所述的事件编号为给虚警诱发事件设置编号；步骤二、建立虚警诱发事件的子电路模型；根据事件类型、模拟方式和事件参数建立虚警诱发事件的子电路模型，子电路模型内部设置接地，对外只有单一接口点，在接地和接口点之间的电路具有模拟方式及事件参数功能；步骤三、虚警诱发事件的接入；将虚警诱发事件对应的子电路模型接入到电路的仿真模型中，h个虚警诱发事件的子电路模型通过对应的接口与相应的接入点进行连接；接口的功能包括：受接入时间控制的事件自动接入；受退出时间控制的事件自动退出；步骤四、进行虚警仿真；运行仿真；仿真时间的长度应设置为虚警仿真剖面模型中指定的仿真时长；步骤五、虚警仿真结果分析；仿真结束后，得到BIT指示的时序波形，根据该波形进行BIT虚警的分析和判断；若虚警诱发事件导致BIT指示故障，则发生了虚警；综合虚警仿真剖面模型和分析结果通过表格形式对虚警仿真结果的整体描述，内容包括：虚警仿真剖面模型中虚警诱发事件编号、事件类型、事件对应的BIT指示、事件对应的虚警次数、虚警仿真剖面模型的合计虚警次数。