[发明专利]光学触控装置的定位方法及光学触控装置有效
申请号: | 201010000335.5 | 申请日: | 2010-01-19 |
公开(公告)号: | CN102129326A | 公开(公告)日: | 2011-07-20 |
发明(设计)人: | 高铭璨;郑信基;许登伟 | 申请(专利权)人: | 原相科技股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/042 | 分类号: | G06F3/042 |
代理公司: | 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 | 代理人: | 杨波 |
地址: | 中国台湾新竹科学工业*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 本发明是有关于一种光学触控装置的定位方法及光学触控装置。该光学触控装置的定位方法,适用于一光学触控装置,以计算一遮光物的位置。光学触控装置包括多个影像侦测元件,每一影像侦测元件包括沿一直线方向排列的多个像素。此光学触控装置的定位方法将每一影像侦测元件的这些像素至少划分成一第一群与一第二群,其中当第一群侦测到遮光物造成的暗点时,藉由一第一演算法计算暗点的位置,而当第二群侦测到遮光物造成的暗点时,藉由一第二演算法计算暗点的位置。使用此光学触控装置的定位方法可使光学触控装置能精确地计算遮光物的位置。本发明另提出一种适用此定位方法的光学触控装置。 | ||
搜索关键词: | 光学 装置 定位 方法 | ||
【主权项】:
一种光学触控装置的定位方法,适用于一光学触控装置,以计算一遮光物的位置,该光学触控装置包括多个影像侦测元件,每一影像侦测元件包括沿一直线方向排列的多个像素,其特征在于该光学触控装置的定位方法包括:将每一影像侦测元件的该些像素至少划分成一第一群与一第二群,其中当该第一群侦测到该遮光物造成的一暗点时,藉由一第一演算法计算该暗点的位置,而当该第二群侦测到该遮光物造成的该暗点时,藉由一第二演算法计算该暗点的位置。
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