[发明专利]用于确定二阶非线性光学系数的方法和系统有效
| 申请号： | 200980159617.5 | 申请日： | 2009-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN102449547A | 公开（公告）日： | 2012-05-09 |
| 发明（设计）人： | 法比奥·安东尼奥·博维诺;玛丽亚·克里斯帝娜·拉尔西普莱特;毛里齐奥·贾尔迪纳;康西塔·西比利亚 | 申请（专利权）人： | 塞莱斯系统集成公司 |
| 主分类号： | G02F1/35 | 分类号： | G02F1/35;G01N21/63 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 意大*** | 国省代码： | 意大利;IT |
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| 摘要： | 这里描述了用于确定材料的二阶非线性光学系数的方法。该方法设想的步骤有：提供至少部分由该材料制成的样品(1；35)，使得第一光信号(Si1)和第二光信号(Si2)撞击在样品上，其中第一光信号和第二光信号分别具有第一脉动和第二脉动，以及具有第一偏振态和第二偏振态，以这种方式使得样本产生第二谐波光信号(Su3)，其具有等于第一和第二脉动的和的第三脉动，并且具有与第一和第二偏振态相关的第三偏振态。该方法进一步设想的步骤有：确定对应于第二谐波光信号的能量的多个测量，以及基于能量的多个测量来确定二阶非线性光学系数。此外，该方法设想随第一偏振态和第二偏振态的变化来执行第二谐波光信号的能量的多个测量。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 非线性 光学 系数 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于确定材料的二阶非线性光学系数的方法，包括：提供至少部分由所述材料制成的样品(1；35)的步骤，使第一光信号(Si1)和第二光信号(Si2)撞击到所述样品上的步骤，所述第一光信号和第二光信号分别具有第一脉动和第二脉动以及第一偏振态和第二偏振态，以这种方式使得所述样品产生具有第三脉动和第三偏振态的第二谐波光信号(Su3)，所述第三脉动等于所述第一和第二脉动的和，所述第三偏振态与所述第一和第二偏振态相关；所述方法进一步包括：确定与所述第二谐波光信号相关联的能量的多个测量的步骤，以及基于能量的所述多个测量确定所述二阶非线性光学系数的步骤；所述方法的特征在于，所述确定能量的所述多个测量的步骤包括随所述第一和第二偏振态的变化来执行所述第二谐波光信号的能量测量的步骤。
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