[发明专利]X射线检查装置及方法有效
| 申请号： | 200980150981.5 | 申请日： | 2009-12-10 |
| 公开（公告）号： | CN102256548A | 公开（公告）日： | 2011-11-23 |
| 发明（设计）人： | C·博伊默;G·福格特米尔 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 本发明涉及通过逆几何CT而实现谱X射线成像设备的检查装置和相应的方法。所提出的检查装置包括：X射线源单元(14)，其包括用于在多个位置处发射X射线(24)的多个X射线源(15)；X射线探测单元(18)，其用于探测从一个或多个所述X射线源(15)发射的且穿透所述X射线源单元(14)和所述X射线探测单元(18)之间的检查区(19)之后的X射线，并且用于生成探测信号；处理单元(36)，其用于处理所生成的探测信号；以及控制单元(26)，其用于控制所述X射线源(15)来随后单独地或成组地以至少两个不同的能量谱发射X射线，使得在切换特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)从而以不同的能量谱发射X射线的时间间隔中，关闭所述特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)，并且，随后开启一个或多个其他X射线源(15b、15c)或其他成组的X射线源(15b、15e、15h；15c、15f、15i)以发射X射线。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 检查 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种X射线检查装置，其包括： X射线源单元(14)，其包括用于在多个位置处发射X射线(24)的多个X射线源(15)， X射线探测单元(18)，其用于探测从一个或多个所述X射线源(15)发射的且穿透所述X射线源单元(14)和所述X射线探测单元(18)之间的检查区(19)之后的X射线，并且，用于生成探测信号， 处理单元(36)，其用于处理所生成的探测信号，以及 控制单元(26)，其用于控制所述X射线源(15)来随后单独地或成组地以至少两个不同的能量谱发射X射线，使得在切换特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)从而以不同的能量谱发射X射线的时间间隔中，关闭所述特定的X射线源(15a)或所述成组的X射线源(15a、15d、15g)，并且，随后开启一个或多个其他X射线源(15b、15c)或其他成组的X射线源(15b、15e、15h；15c、15f、15i)以发射X射线。
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