[发明专利]双采样模式的分光光度计

摘要

介绍了有选择地测量在器皿(72)中的样品或保持于两个相对的基座(A’、A”)之间的表面张力模式下的样品(5、5’)的双模式方法和设备。在任一种配置下，上述模式还包括来自源系统、通过小容量或大容量样品、到达基于分光计的系统的光学路径。对于任意给定的波长，上述系统使用户能够测量具有从约0.005至约2.0吸光度单位的吸光度范围的样品。

主权项

一种用于测量样品的光学性质的双模式分光光度计，包括：第一基座表面，其联接至具有发射端的第一光学导管；底座；第二基座表面，其机械地联接至所述底座并被配置为接收第一液体样品，所述第二基座表面联接至具有接收端的第二光学导管，其中所述第二基座表面进一步可操作以在可变距离(P)下调整所述第一基座表面和所述第二基座表面之间的间隔，以便将所述第一液体样品拉成柱从而由表面张力限制，由此通过所述第一光学导管的所述发射端和所述第二光学导管的所述接收端为光度测定或光谱测定的测量提供光学路径；器皿保持器，其配置有凹形的导向装置，所述器皿保持器被配置为可移动地联接至所述底座；以及样品器皿，其被配置为弹性地固定在所述凹形的导向装置内，所述样品器皿在其中具有第二液体样品并且在其中配置有至少两个窗口装置，由此也为光度测定或光谱测定的测量提供光学路径。