[发明专利]双采样模式的分光光度计

权利要求书

1.一种用于测量样品的光学性质的双模式分光光度计，包括：

第一基座表面，其联接至具有发射端的第一光学导管；

底座；

第二基座表面，其机械地联接至所述底座并被配置为接收第一液体样品，所述第二基座表面联接至具有接收端的第二光学导管，其中所述第二基座表面进一步可操作以在可变距离(P)下调整所述第一基座表面和所述第二基座表面之间的间隔，以便将所述第一液体样品拉成柱从而由表面张力限制，由此通过所述第一光学导管的所述发射端和所述第二光学导管的所述接收端为光度测定或光谱测定的测量提供光学路径；

器皿保持器，其配置有凹形的导向装置，所述器皿保持器被配置为可移动地联接至所述底座；以及

样品器皿，其被配置为弹性地固定在所述凹形的导向装置内，所述样品器皿在其中具有第二液体样品并且在其中配置有至少两个窗口装置，由此也为光度测定或光谱测定的测量提供光学路径。

2.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，为引入的少于约2微升的样品容量至约50毫升的样品容量提供吸收测量。

3.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，为引入的具有从约10微米至约100毫米长度的所述光学路径的样品容量提供吸收测量。

4.如权利要求3所述的双模式分光光度计，其中，对路径长度的差值的校正等同于提供测量的交叉定标。

5.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，对于任意给定光径长度，所述双模式分光光度计适用于测量从约0.005至约2.0吸光度单位的吸光度。

6.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述器皿包括选自矩形容器、试管、定制器皿中的至少一种器皿。

7.如权利要求6所述的双模式分光光度计，其中，所述矩形容器包括化学需氧量(COD)传感器。

8.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述器皿保持器包括定位销以确保在移除后重联接时的适当安装。

9.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述器皿保持器包括横向孔以使光径能够被引导通过所述器皿。

10.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，在所述器皿保持器中所述横向孔与有槽沟的夹紧装置联合，使一对光学支架能够安装在埋头的开口中，从而固定预定的发射和接收光学器件。

11.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，由所述双模式分光光度计提供的摇动臂成角度地固定所述器皿。

12.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述第二基座还联接至线性致动器的轴以能够平移所述第二基座，并且提供与所述第一基座相关的所述可变距离(P)以能够区分吸光度路径长度。

13.如权利要求12所述的双模式分光光度计，其中，通过涡流传感器监测所述可变距离，所述涡流传感器能感测至配置板的距离从而能够计算由此产生的平移。

14.如权利要求12所述的双模式分光光度计，其中，通过电容传感器监测所述可变距离，所述电容传感器能感测至配置板的距离从而能够计算由此产生的平移。

15.如权利要求13所述的双模式分光光度计，其中，所述涡流传感器设置在印制电路板(PCB)上。

16.如权利要求15所述的双模式分光光度计，其中，所述印制电路板(PCB)包括位置传感器，当平移控制系统在启动或被光遮断器装置遮断而初始化时，所述位置传感器建立参照位置。

17.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述双模式分光光度计包括照射源，所述照射源被配置为提供至少200nm的波长。

18.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述双模式分光光度计包括照射源，所述照射源被配置为提供从约190nm至约840nm的波长。

19.如权利要求1所述的双模式分光光度计，其中，所述光度测定或光谱测定的测量获取的数据能通过选自蓝牙连接、IEEE连接、超宽带(UWB)连接中的至少一种无线连接装置输出至基于计算机的系统。