[发明专利]掩模板用基板有效
申请号: | 200980141196.3 | 申请日: | 2009-11-25 |
公开(公告)号: | CN102187275A | 公开(公告)日: | 2011-09-14 |
发明(设计)人: | 佐佐木达也;宫崎贵裕 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/14 | 分类号: | G03F1/14;C03C17/36;H01L21/027 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李伟;王轶 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明的掩模板用基板能够使吸附前后的主表面的平坦度变化更小、使因光掩模引起的位置错移非常少,并且使每个光掩模在吸附前后的基板变形趋势的不同非常少。该掩模板用基板的特征在于:在具有2个主表面和4个端面的基板的主表面设定中心点,分别设定穿过该中心点而与任意一个端面平行的第一对称轴、和穿过上述中心点与第一对称轴正交的第二对称轴,将上述第一对称轴以及第二对称轴作为基准,以栅格状设定测定点,来分别测定上述主表面距离基准面的高度,针对以上述第一对称轴为基准而位于线对称的位置的测定点彼此计算出高度测定值的差量,对于计算出的高度测定值的差量,所有个数中至少95%个数的差量在规定值以内。 | ||
搜索关键词: | 模板 用基板 | ||
【主权项】:
一种掩模板用基板,其特征在于,分别设定穿过在具有2个主表面和4个端面的基板的主表面设定的中心点而与任意一个端面平行的第一对称轴、和穿过上述中心点而与第一对称轴正交的第二对称轴,将上述第一对称轴以及第二对称轴作为基准,以栅格状设定测定点,来分别测定上述主表面距离基准面的高度,针对以上述第一对称轴为基准而位于线对称的位置的测定点彼此,计算出高度测定值的差量,对于计算出的高度测定值的差量,所有个数中至少95%个数的差量在规定值以内。
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- 专利分类
G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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