[发明专利]光纤干涉仪及用于确定光纤干涉仪的光纤线圈内部的物理状态参数的方法有效
| 申请号： | 200980133244.4 | 申请日： | 2009-07-17 |
| 公开（公告）号： | CN102132129A | 公开（公告）日： | 2011-07-20 |
| 发明（设计）人： | G·多纳 | 申请（专利权）人： | 诺思罗普·格鲁曼·利特夫有限责任公司 |
| 主分类号： | G01C19/72 | 分类号： | G01C19/72 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇;张会华 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 一种包括光纤(14)的光纤干涉仪，其中光纤(14)卷绕以形成光纤线圈(16)并且第一光源(10)的两个分光束能够耦合到所述光纤(14)中，所述光纤干涉仪具有整合到所述光纤线圈(16)中的Bragg结构，所述Bragg结构包括具有周期性变化的折射率的光纤。一种用于确定光纤干涉仪的光纤线圈(16)内部的物理状态参数的方法，其特征在于，基于Bragg结构的反射波长获得关于光纤线圈(16)内部中的物理状态参数的信息，其中所述Bragg结构被整合到所述光纤线圈(16)中并且包括具有周期性变化的折射率的光纤。 | ||
| 搜索关键词： | 光纤 干涉仪 用于 确定 线圈 内部 物理 状态 参数 方法 | ||
【主权项】：
一种光纤干涉仪，其包括光纤(14、114)，所述光纤(14、114)卷绕以形成光纤线圈(16、116)并且第一光源(10、110)的两个分光束能够耦合到所述光纤(14、114)中，所述光纤干涉仪的特征在于，设置有整合在所述光纤线圈(16、116)内的Bragg结构，所述Bragg结构包括具有周期性变化的折射率的光纤(52)。
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