[发明专利]活线检测装置无效
| 申请号： | 200980129090.1 | 申请日： | 2009-07-22 |
| 公开（公告）号： | CN102105828A | 公开（公告）日： | 2011-06-22 |
| 发明（设计）人： | 内田雄一 | 申请（专利权）人： | 松下电工株式会社 |
| 主分类号： | G02B6/42 | 分类号： | G02B6/42;G01M11/02;G02B6/00 |
| 代理公司： | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人： | 吕静姝;杨暄 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种活线检测装置。漏光产生部(3)通过以两根光纤(1、1)的连接部位的折射率分布与光轴方向的其它部位的折射率分布相互不同的方式连接光纤(1、1)而形成于连接部位，使在其中之一光纤(1)(在图示的例子中是右侧的光纤1)的纤芯内传播的光的一部分漏光到另一光纤(1)(在图示的例子中是左侧的光纤1)的包层(12)。受光元件芯片(5)通过由透明的粘结剂形成的透明粘结层(4)而粘结于另一光纤(1)的包层(12)的外周面，检测由漏光产生部(3)漏出的光。 | ||
| 搜索关键词： | 检测 装置 | ||
【主权项】：
一种活线检测装置，用于检测包含两根光纤的光线路是否处于活线状态，其特征在于包括：漏光产生部，通过以所述两根光纤的连接部位的折射率分布与光轴方向的其它部位的折射率分布相互不同的方式连接所述两根光纤而形成，使在其中之一光纤的纤芯内传播的光的一部分漏光到另一光纤的包层；以及受光元件，通过透光性粘结层粘结于所述另一光纤的包层的外周面，检测由所述漏光产生部漏出的光。
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