[发明专利]活线检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及检测将两根光纤的一端彼此连接而形成的光线路是否处于活线状态(hotline state)的活线检测装置。

背景技术

以往，在光纤通信技术领域，已知检测由在局域(station)内、大楼内、户内等处设置的光终端盒(optical termination box)中收纳的光通信用光纤形成的光线路是否处于活线状态的活线检测装置。作为这种活线检测装置，例如提出了无需弯曲光纤即可检测活线状态的活线检测装置(例如，参照专利文献1)。此处，所谓活线状态，是指光线路正常传输光的状态。

在该活线检测装置中，无需弯曲光纤即可检测出活线状态，因此能够防止由于使光纤弯曲而造成光纤折损和由于临时性的传输损失的增加而引起传输错误等情况。

图20表示专利文献1所示的以往的活线检测装置的结构图。如图20所示，以往的活线检测装置包括：保护通过将构成光线路A’的两根光纤1’、1’的一端彼此融接(fused)而形成的融接部2’，泄漏从融接部2’漏出的光的融接加强套管42’；收纳融接加强套管42’并将各光纤1’、1’导出的壳体40’；以及嵌入于壳体40’的开口部，用受光元件(未图示)检测从融接部2’通过融接加强套管42’而漏出的光的光检测部50’。

另外，当将两根光纤1’、1’的一端彼此融接时，通常以该两根光纤1’、1’的光轴的轴偏差以及角度偏差等引起的连接损失为最小的方式融接该两根光纤1’、1’。因此，图20所示的融接部2’的连接损失在波长为1310nm时为0.2dB左右。

但是，在光通信中，在光纤中传播的光的功率范围较广，有时会小至-20dBm左右，在此情况下，从融接部2’漏出的光的功率变小。而且，设置在融接加强套管42’之外的受光元件与融接部2’的距离较远。由于这些原因，到达受光元件的受光面的光的功率降低，其结果受光效率降低，S/N比降低，存在活线检测变得困难的问题。

本发明的目的在于提供一种能够实现更稳定的活线检测的活线检测装置。

专利文献1：日本专利公开公报特开2007-85934号

发明内容

本发明所提供的活线检测装置，用于检测包含两根光纤的光线路的活线状态，包括：漏光产生部，通过以所述两根光纤的连接部位的折射率分布与光轴方向的其它部位的折射率分布不同的方式连接所述两根光纤而形成，使在其中之一光纤的纤芯内传播的光的一部分漏光到另一光纤的包层；以及受光元件，通过透光性粘结层粘结于所述另一光纤的包层的外周面，检测由所述漏光产生部漏出的光。

附图说明

图1表示本发明的实施方式1的活线检测装置的概略结构图。

图2(A)至(D)是作为光纤使用单模光纤时的折射率分布的说明图，其中，(A)是表示光纤的概略结构的图，(B)表示(A)所示的B-B剖面的折射率分布，(C)表示(A)所示的C-C剖面的折射率分布，(D)表示(A)所示的D-D剖面的折射率分布。

图3(A)至(D)是作为光纤使用GI型多模光纤时的折射率分布的说明图，其中，(A)是表示光纤的概略结构的图，(B)表示(A)所示的B-B剖面的折射率分布，(C)表示(A)所示的C-C剖面的折射率分布，(D)表示(A)所示的D-D剖面的折射率分布。

图4(A)、(B)是本发明的实施方式2的活线检测装置的说明图。

图5(A)表示本发明的实施方式3的活线检测装置的概略结构图，(B)表示光纤的B-B剖面的剖视图，(C)表示漏光产生用光纤的C-C剖面的剖视图。

图6(A)、(B)是放大表示图5所示的融接部的图。

图7(A)表示本发明的实施方式4的活线检测装置的概略结构图，(B)表示(A)的B-B剖面的剖视图，(C)表示B-B剖面的折射率分布，(D)表示(A)的D-D剖面的剖视图，(E)表示D-D剖面的折射率分布。

图8(A)表示SI型多模光纤的光路图，(B)表示GI型多模光纤的光路图，(C)表示图7(A)的右侧的融接部附近的光路图，(D)表示图7(A)的左侧的融接部附近的光路图。

图9(A)表示本发明的实施方式5的活线检测装置的概略结构图，(B)表示(A)的B-B剖面的剖视图，(C)表示B-B剖面的折射率分布，(D)表示(A)的D-D剖面的剖视图，(E)表示D-D剖面的折射率分布。

图10表示本发明的实施方式6的活线检测装置的概略结构图。