[发明专利]用于从光学相干断层扫描图像获得组织特性的定量方法有效
| 申请号： | 200980119224.1 | 申请日： | 2009-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN102046071A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 约瑟夫·M·斯密特;徐晨阳 | 申请（专利权）人： | 光学实验室成像公司 |
| 主分类号： | A61B5/00 | 分类号： | A61B5/00;G01N21/47 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 李丙林;张英 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 一种用于确定通过光学相干断层扫描(OCT)成像的一个组织或多个组织的性质的方法和设备。在一个实施方式中，测量OCT光束的反向散射和衰减，并基于这些测量结果，将诸如颜色的标记分配给对应于那部分的反向散射和衰减的具体值的图像的每一部分。然后图像与所述标记一起显示并且用户接着能够确定组织特性。在一个可替换实施方式中，组织特性通过反向散射和衰减值的组合给定的程序自动分类。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 相干 断层 扫描 图像 获得 组织 特性 定量 方法 | ||
【主权项】：
一种用于原位鉴别组织成分的处理器实现的方法，包括以下步骤：a.利用探针原位收集组织样品的OCT数据组；b.测量在所述组织样品的一个点处的衰减值和反向散射值；和c.响应于所测得的衰减值和反向散射值，确定对应于由所述OCT数据组形成的OCT图像中的一个图像位置的所述组织样品中的一个位置的组织特性。
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