[发明专利]自动化X射线荧光分析有效
| 申请号： | 200980113590.6 | 申请日： | 2009-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN102066912A | 公开（公告）日： | 2011-05-18 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·E·杜加斯;里·哥罗德金斯;斯蒂芬·I·沙夫斯基 | 申请（专利权）人： | 特莫尼托恩分析仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 11204 | 代理人： | 余朦;王艳春 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种根据完整频谱分析将样品进行分类的方法。使用穿透性辐射照射样品，并根据样品的表面或容积之中发射的共振荧光谱线的频谱分辨率执行初始完整频谱分析。如果初始完整频谱分析产生样品的组成在可接受限度内，那么将分析值输出给用户。否则，初始完整频谱分析结果告知执行进一步的分析。 | ||
| 搜索关键词： | 自动化 射线 荧光 分析 | ||
【主权项】：
一种用于对未知组合物样品的组成进行分类的方法，所述方法包括：a.使用第一束穿透性辐射照射所述样品的一部分，所述第一束穿透性辐射由光束设置的第一预指定集合来表征；b.检测所述样品放射的x射线辐射；c.执行所述x射线辐射的完整光谱分析；以及d.基于所述完整光谱分析至少关于金属含量将所述样品的组成进行分类。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于特莫尼托恩分析仪器股份有限公司，未经特莫尼托恩分析仪器股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200980113590.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
