[发明专利]原地测定粒状材料层的密实度的方法和实施该方法的装置无效

专利信息
申请号: 200980107701.2 申请日: 2009-07-17
公开(公告)号: CN102132141A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 伊什特万·苏贝特 申请(专利权)人: 伊什特万·苏贝特
主分类号: G01N3/00 分类号: G01N3/00;E02D1/02
代理公司: 北京金信立方知识产权代理有限公司 11225 代理人: 黄威
地址: 匈牙利布*** 国省代码: 匈牙利;HU
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摘要: 发明的客体是一种原地测定粒状材料层的密实度的装置,特别用于测定同等地含有固体部分、液体和气相的材料层如泥土的密实度,包括导向体、与导向体连接的加载盘和与加载盘关联可沿导向体移动的落锤。本装置的技术特征是,调整指示器(20)以适应落锤(13),该指示器(20)具有导向机构(21),其中导向机构(21)中的一个和导向体(11)至少周期性地相互连接以限制运动方向,且导向体(11)配有长度测量单元(30)。此外,本发明的客体也是一种原地测定粒状材料层的密实度的方法,特别用于测定同等地含有固体部分、液体和气相的材料层如泥土的密实度,使用一与导向体连接的加载盘和与加载盘关联可沿导向体移动的落锤组成的装置作为工具。将加载盘放置在需检测的材料层的表面,然后在落锤的帮助下,将给定值的变形冲击能传递给加载盘,紧跟着,测定材料层的密实度。本发明方法的特征是,在传递变形冲击能之前,我们连接落锤(13)与指示器(20),然后,在传递变形冲击能给加载盘之后,借助指示器(20),我们测定从加载盘反弹的落锤(13)的值,并根据反弹值建立加载盘(12)下的材料层的密实度。
搜索关键词: 原地 测定 粒状 材料 密实 方法 实施 装置
【主权项】:
一种用于原地测定粒状材料层的密实度的装置,特别用于测定同等地含有固体部分、液体和气相的材料层如泥土的密实度,所述装置包括导向体、与导向体连接的加载盘和与加载盘关联可以沿导向体移动的落锤,其特征在于,调整一指示器(20)以适应于落锤(13),所述指示器(20)具有导向机构(21),导向机构(21)中的一个和导向体(11)至少周期性地相互连接以限制运动方向,且导向体(11)装配有长度测量单元(30)。
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