[发明专利]光频域反射测定方式的物理量测量装置、及使用了其的温度和应变的同时测量方法有效
| 申请号： | 200980000285.6 | 申请日： | 2009-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN101680781A | 公开（公告）日： | 2010-03-24 |
| 发明（设计）人： | 大道浩儿;坂元明;平船俊一郎 | 申请（专利权）人： | 株式会社藤仓 |
| 主分类号： | G01D5/353 | 分类号： | G01D5/353;G01B11/16;G01K11/12 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 雒运朴;李 伟 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明的光频域反射测定方式的物理量测量装置具备：射出测定光的可调谐激光器；一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤；与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器；一端与该保偏耦合器连接，另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤；一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤；形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器；一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤；借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接，对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管；根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化，检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部；向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方，入射所述测定光的入射部；和配置于所述第三保偏光纤，使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部；所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。 | ||
| 搜索关键词： | 光频域 反射 测定 方式 物理量 测量 装置 使用 温度 应变 同时 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种光频域反射测定方式的物理量测量装置，其特征在于，具备：射出测定光的可调谐激光器；一端与该可调谐激光器连接的第一保偏光纤；与该第一保偏光纤的另一端连接的保偏耦合器；一端与该保偏耦合器连接，另一端作为参照用反射端的第二保偏光纤；一端与所述保偏耦合器连接的第三保偏光纤；形成于该第三保偏光纤的纤芯且由光纤光栅构成的传感器；一端与所述保偏耦合器连接的第四保偏光纤；借助该第四保偏光纤与所述保偏耦合器连接，对来自所述传感器的布拉格反射光和来自所述参照用反射端的参照光进行检测的光电二极管；根据由该光电二极管检测出的所述布拉格反射光和所述参照光的合波光强度变化，检测这些布拉格反射光和参照光之间的干涉强度的调制的控制部；向所述第二保偏光纤的正交的两个偏振轴及所述第三保偏光纤的正交的两个偏振轴双方，入射所述测定光的入射部；和配置于所述第三保偏光纤，使来自所述传感器中的正交的两个偏振轴的布拉格反射光的光路长度恒定的光路长度调整部，所述入射部被配置于所述第一保偏光纤、或所述第二保偏光纤与所述第三保偏光纤双方。
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