[实用新型]一种闪存测试仪无效
申请号: | 200920130142.4 | 申请日: | 2009-02-11 |
公开(公告)号: | CN201421721Y | 公开(公告)日: | 2010-03-10 |
发明(设计)人: | 彭玉元 | 申请(专利权)人: | 彭玉元 |
主分类号: | G11C29/56 | 分类号: | G11C29/56 |
代理公司: | 深圳市深远专利商标事务所 | 代理人: | 褚治保 |
地址: | 518000广东省深圳市福*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种闪存测试仪,包括PCBA板,PCBA板上焊接有与电脑连接的USB接口以及与待测试元器件连接的USB接口,其特征在于,与电脑连接的USB接口通过开关与待测试对象连接,待测试对象的USB接口与USB接口相连后连接至电脑;PCBA板上还焊接有闪存测试座,闪存测试座的输入接口采用24P排线口,并通过24P排线与待测试对象的闪存的排线接口连接。本实用新型采用分离式结构设计,因此可以直接对各种不同的闪存设备进行挑选,测试,量产,清空,维修等工艺处理,不需要再另外生产专用的测试设备,减少重复投资,大大降低了企业的生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 闪存 测试仪 | ||
【主权项】:
1、一种闪存测试仪,包括PCBA板,PCBA板上焊接有与电脑连接的USB接口以及与待测试元器件连接的USB接口,其特征在于,与电脑连接的USB接口(1)通过开关(3)与待测试对象(11)连接,待测试对象(11)的USB接口与USB接口(2)相连后连接至电脑;PCBA板上还焊接有闪存测试座(5),闪存测试座(5)的输入接口采用24P排线口(8),并通过24P排线(9)与待测试对象(11)的闪存的排线接口(10)连接。
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