[实用新型]集成电路芯片测试仪无效
申请号: | 200920106484.2 | 申请日: | 2009-03-27 |
公开(公告)号: | CN201464611U | 公开(公告)日: | 2010-05-12 |
发明(设计)人: | 孔睿;李莉 | 申请(专利权)人: | 孔睿 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 北京双收知识产权代理有限公司 11241 | 代理人: | 李云鹏 |
地址: | 100083 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 一种集成电路芯片测试仪,包括芯片卡槽、单片机、键盘、显示灯、液晶显示器、第一扩展接口、第二扩展接口以及5V直流源,键盘输入芯片型号,系统自动检测芯片的好坏,并通过液晶屏和指示灯直观显示结果;对完好的芯片,显示逻辑符号和逻辑表达式,确定芯片型号;不插芯片,输入简单的管脚特性,判断芯片型号,调出芯片的逻辑符号和逻辑表达式;从而提供一种操作方便,得到结果快速准确,测试结果显示清楚、简单、明了,价格便宜,便于检测和修改的集成电路芯片测试仪。 | ||
搜索关键词: | 集成电路 芯片 测试仪 | ||
【主权项】:
一种集成电路芯片测试仪,包括芯片卡槽(1)、单片机(2)、键盘(3)、显示灯(4)、液晶显示器(5)以及5V直流源(8);所述芯片卡槽(1)用于连接待测的集成电路芯片;所述键盘(3)用于输入待测集成电路芯片的型号或者管脚特性以及进行功能切换、确认和复位;所述显示灯(4)用于显示测量结果;所述液晶显示器(5)用于显示按键输入的信息,并显示集成电路芯片的芯片型号、逻辑符号和逻辑表达式;所述单片机(2)用于存储集成电路芯片的型号、逻辑符号和逻辑表达式,测量所述芯片卡槽(1)上插入的待测集成电路芯片的好坏,并指示所述显示灯(4)和所述液晶显示器(5)显示结果,令所述液晶显示器(5)显示集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式,接收所述键盘(3)键入的集成电路芯片的型号或者管脚特性,令所述液晶显示器(5)显示键入的集成电路芯片的逻辑符号和逻辑表达式;所述5V直流源(8)为所述芯片卡槽(1)、所述单片机(2)、所述键盘(3)、所述显示灯(4)和所述液晶显示器(5)提供5V直流电源;其特征在于,还包括第一扩展接口(6)、第二扩展接口(7);所述第一扩展接口(6)用于连接所述单片机(2)和所述液晶显示器(5),扩展所述单片机(2)的端口;所述第二扩展接口(7)用于连接所述单片机(2)和所述键盘(3)以及显示灯(4),扩展所述单片机(2)的端口。
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