[实用新型]晶片测试载架无效
| 申请号： | 200920104868.0 | 申请日： | 2009-01-09 |
| 公开（公告）号： | CN201359612Y | 公开（公告）日： | 2009-12-09 |
| 发明（设计）人： | 胡德良;薛毓虎;周云青;张正栋 | 申请（专利权）人： | 江阴市爱多光伏科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R1/02 | 分类号： | G01R1/02;G01R31/26;G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 | 代理人： | 张春和 |
| 地址： | 214400江苏省江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种晶片测试载架，至少包含有一基座，一基架及一上盖；该基座中央处开设一空间，且该空间侧边至少设有一定位凹槽；该基架套于所述基座中央处开设空间的侧边，且该基架的侧边至少设有一定位凸槽，以衔接于所述的定位凹槽，该基架底部至少一侧边向中央处延伸一基板；且上盖盖合于该基座的上端；因此，由于基架底部侧边所延伸的基板的程度不同，因而可以载架不同大小尺寸的测试晶片，同时，还依常用测试晶片的尺寸大小不同，设计数个相同基架，而每一基架给予不同程度的延伸的基板，以利晶片测试载架结构方便替换，达到了待测晶片的每一接脚可以轻易由此软性且导电的接触面板，电性连接于接触面板下的测试电路板的每一接脚的效果。 | ||
| 搜索关键词： | 晶片 测试 | ||
【主权项】：
1、一种晶片测试载架，其特征在于：它包含有一基座(203)，该基座(203)中央处开设一空间(208)，且该空间(208)侧边(209)至少设有一定位凹槽(210)；一基架(204)，其套于所述基座(203)中央处开设的空间(208)的侧边(209)，且该基架(204)的侧边(211)至少设有一定位凸槽(212)，衔接于所述的定位凹槽(210)，该基架(204)底部至少一侧边向中央处延伸一基板(213)；以及一上盖(206)，盖合于该基座(203)的上端。
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