[实用新型]一种使用X射线荧光光谱仪测量镀层的装置有效
| 申请号： | 200920072300.5 | 申请日： | 2009-05-15 |
| 公开（公告）号： | CN201434851Y | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 宋涵华 | 申请（专利权）人： | 上海优特化工有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 北京英特普罗知识产权代理有限公司 | 代理人： | 段成云 |
| 地址： | 201822*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本实用新型提供一种使用X射线荧光光谱仪测量镀层的装置，包括高压发生器、X射线管、准直器、镜片、摄像头、探测器、多道板、计算机，高压发生器连接X射线管，X射线管连接准直器，探测器连接多道板，多道板连接计算机。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 使用 射线 荧光 光谱仪 测量 镀层 装置 | ||
【主权项】：
1.一种使用X射线荧光光谱仪测量镀层的装置，包括高压发生器(1)、X射线管(2)、准直器(3)、镜片(4)、摄像头(5)、探测器(9)、多道板(10)、计算机(11)，其特征在于，高压发生器(1)连接X射线管(2)，X射线管(2)连接准直器(3)，探测器(9)连接多道板(10)，多道板(10)连接计算机(11)。
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