[发明专利]一种时间域航空电磁高度校正方法有效
申请号: | 200910263449.6 | 申请日: | 2009-12-17 |
公开(公告)号: | CN101710187A | 公开(公告)日: | 2010-05-19 |
发明(设计)人: | 毛立峰;胡平;孟庆敏;李文杰;王绪本 | 申请(专利权)人: | 成都理工大学;中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明公开了一种时间域航空电磁高度校正方法,该方法利用x、z两个分量的感生电动势数据联合计算一种等效均匀半空间电阻率序列,再按等效均匀半空间电阻率为均匀半空间模型的电阻率参数值,在校正高度下正演计算均匀半空间模型的各瞬时感生电动势响应数据,即为最终的校正结果。其中,利用等效均匀半空间电阻率值实现观测感生电动势数据校正是本发明的创新部分。本发明计算速度快,校正结果的相对误差较小,符合航空电磁资料处理要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 时间 航空 电磁 高度 校正 方法 | ||
【主权项】:
1.一种时间域航空电磁高度校正方法,其特征在于该方法包括以下步骤:(1)对实测的两感生电动势分量数据进行转换在实际飞行高度下,由两个感生电动势分量实测数据Vx、Vz计算对应各校正时刻Tk=(tk+tk+nk)/2的幅值比值数据
所述k=1,2,…,n-nk,n为采样时间个数;(2)计算幅度比值数据查询表给定m个离散化查询电阻率数据ρi0(i=1,2,...,m),分别作为等效均匀半空间的电阻率值,先计算它的两分量航空瞬变电磁响应Vx0、Vz0,再计算理论幅度比值查询数据体
并将其作为计算等效均匀半空间电阻率的查询数据表保存在一个二维数组中,所述i=1,2,…,m,k=1,2,…,n-nk,n为采样时间个数;(3)计算等效均匀半空间电阻率值以各校正时刻Tk对应的两分量幅度比值数据A0(ρi,Tk)作为电阻率的单值函数关系,用局部样条插值的方法计算实测两分量数据的幅度比值数据A(Tk)对应的电阻率值,即为所求的第k个校正时刻的等效均匀半空间电阻率值,逐一计算n-nk个校正时刻的等效均匀半空间电阻率值,即完成了等效均匀半空间电阻率的计算,所述i=1,2,…,m;k=1,2,…,n-nk,n为采样时间个数;(4)计算各校正时刻的感生电动势数据根据各校正时刻的等效均匀半空间电阻率值,在给定的校正高度h1下,逐一计算全部n-nk个校正时刻对应的各分量感生电动势数据,即为最终的校正结果。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于成都理工大学;中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所,未经成都理工大学;中国地质科学院地球物理地球化学勘查研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910263449.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:铝合金门窗型材专用模架
- 下一篇:晶圆清洗设备的滚轮装置