[发明专利]基于3×3光纤耦合器的相移白光干涉测量方法无效
| 申请号: | 200910249630.1 | 申请日: | 2009-12-09 |
| 公开(公告)号: | CN101718563A | 公开(公告)日: | 2010-06-02 |
| 发明(设计)人: | 江毅;梁蓬娟 | 申请(专利权)人: | 北京理工大学 |
| 主分类号: | G01D5/353 | 分类号: | G01D5/353;G01J9/02 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 100081 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: |
本发明涉及光纤白光干涉测量方法,特别涉及基于3×3光纤耦合器的相移白光干涉测量方法,属于光纤传感技术领域。该方法由一只2×2光纤耦合器和一只3×3光纤耦合器构成光纤M-Z干涉仪,波长扫描光注入到光纤M-Z干涉仪中。输出的三路白光干涉光谱信号幅值相等,在相位上两两相差120°。当波长扫描光从λ1扫描到λ2时,得到三路输出信号I1,I2和I3,通过计算 |
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| 搜索关键词: | 基于 光纤 耦合器 相移 白光 干涉 测量方法 | ||
【主权项】:
1.)一种基于3×3光纤耦合器的相移白光干涉测量方法,其特征在于具体实现步骤如下:1)应用一只2×2耦合器和一只3×3耦合器构成光纤M-Z干涉仪;将波长扫描光入射到干涉仪,使干涉仪的输出端得到三路白光干涉光谱;2)若3×3耦合器对称,干涉仪的三路输出端互成120°,定义3×3耦合器输出的三路干涉信号为:
k=1,2,3其中,定义K=1时为1路信号,K=2时为2路信号,K=3时为3路信号,a(λ)为光源光谱轮廓引入的背景光即直流信号,b(λ)是干涉条纹的对比度,线性相位信息
式中m取值为整数,-π≤δ≤π,D是干涉仪两臂之间的光程差;3)将步骤2)中得到的三路干涉信号中的1和3两路做如下处理可得一个正弦信号
2倍的第2路信号减去1和3路信号之和后除以系数3可得到一个余弦信号
与上面所得到的g1信号相位相差90°;将g1和g2这两路正交信号相除后取反余弦可得到干涉仪的相位信息
4)步骤3)中提取出相位信息δ是通过反正切算法得到的,相位范围在
之间,不连续;为了获取连续相位信息,需要对相位进行解包裹运算,方法是:先给解调出的相位信息δ都乘以2,将其范围扩展到【-π,π】之间,再进行相位解包裹运算,然后再除以2,恢复到原始的线性相位信息
根据线性相位信息
与波长之间的微分关系
干涉仪的光程差D就可通过下式直接得到:![]()
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