[发明专利]太赫兹偏振分析器及太赫兹偏振测量方法无效
| 申请号： | 200910238732.3 | 申请日： | 2009-11-23 |
| 公开（公告）号： | CN101726362A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 张亮亮;钟华;邓朝;张存林 | 申请（专利权）人： | 首都师范大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 | 代理人： | 孙皓晨;贺华廉 |
| 地址： | 100037 北京*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种太赫兹偏振分析器以及一种采用太赫兹偏振分析器的太赫兹偏振测量方法，偏振分析器包括发出激光的激光光源；分束片，设于所述激光光源的光路后方，将激光分为泵浦光和探测光；产生太赫兹波的太赫兹产生装置，设于所述分束片后方泵浦光的光路上；石英晶体，设置于所述太赫兹产生装置后方的光路上，所述石英晶体的光轴与水平方向成45°设置；光路调整装置，设于所述石英晶体后方的光路上和探测光的光路上，使所述太赫兹波和探测光同向共线；探测晶体，设于所述光路调整装置后方的光路上；探测装置，设于所述探测晶体后方的光路上。 | ||
| 搜索关键词： | 赫兹 偏振 分析器 测量方法 | ||
【主权项】：
一种太赫兹偏振分析器，其特征在于，包括发出激光的激光光源；分束片，设于所述激光光源的光路后方，将激光分为泵浦光和探测光；产生太赫兹波的太赫兹产生装置，设于所述分束片后方泵浦光的光路上；石英晶体，设置于所述太赫兹产生装置后方的光路上，所述石英晶体的光轴与水平方向成45°设置；光路调整装置，设于所述石英晶体后方的光路上和探测光的光路上，使所述太赫兹波和探测光同向共线；探测晶体，设于所述光路调整装置后方的光路上；探测装置，设于所述探测晶体后方的光路上。
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