[发明专利]一种光学系统弥散斑和色偏差测试装置及方法无效
| 申请号： | 200910218694.5 | 申请日： | 2009-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN102053010A | 公开（公告）日： | 2011-05-11 |
| 发明（设计）人： | 周艳;赵建科;陈永权;张洁;徐亮 | 申请（专利权）人： | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01M11/02 | 分类号： | G01M11/02 |
| 代理公司： | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人： | 商宇科 |
| 地址： | 710119 陕西省西*** | 国省代码： | 陕西;61 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种光学系统弥散斑和色偏差的测试装置及其方法，该装置包括单色仪、目标靶轮、平行光管、转台、CCD显微测量单元以及采集与控制计算机；单色仪、目标靶轮、平行光管以及CCD显微测量单元依次位于同一光轴上；转台用于设置被测光学系统和CCD显微测量单元；转台、单色仪和CCD显微测量单元都和采集与控制计算机连接。本发明能够有效的测试各种光学系统在不同波长范围下的弥散斑直径和色偏差，很好的保证了光学系统的成像质量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光学系统 弥散 偏差 测试 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种光学系统弥散斑和色偏差的测试装置，其特征在于：该装置包括单色仪、目标靶轮、平行光管、转台、CCD显微测量单元以及采集与控制计算机；所述单色仪、目标靶轮、平行光管以及CCD显微测量单元依次位于同一光轴上；所述转台用于设置被测光学系统和CCD显微测量单元；所述转台、单色仪和CCD显微测量单元都和采集与控制计算机连接。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所，未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200910218694.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
