[发明专利]液晶盒的倾角测定方法和装置无效
| 申请号： | 200910209083.4 | 申请日： | 2009-10-30 |
| 公开（公告）号： | CN101726884A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 杉田一纮;铜田知广 | 申请（专利权）人： | 大塚电子株式会社 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 提供一种液晶盒的倾角测定方法和装置，可以无需显微光学系统，且只需一次测定液晶盒的透射光强度。从光源(21)的光取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒(23)上以使得该光的光轴(B)与液晶盒(23)的法线成倾斜的角度(θ)；基于透过液晶盒(23)后出射的光的与偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率(Tc)；用该光强度透射率(Tc)、液晶的正常光折射率(no)和异常光折射率(ne)、角度(θ)以及液晶的厚度(d)，求出液晶的倾角(β)。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 倾角 测定 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种液晶盒的倾角测定方法，其特征在于：从光源取出线偏振分量的光；把该偏振分量的光照在液晶盒上以使得该光的光轴与上述液晶盒的法线成倾斜的角度；测定透过上述液晶盒后出射的光中的、在与光的行进方向垂直的面内与上述偏振分量成直角方向的偏振分量中的光强度，求出光强度透射率；用该光强度透射率、上述液晶的正常光折射率和异常光折射率、上述倾斜的角度以及上述液晶的厚度，求出上述液晶的倾角。
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