[发明专利]测量附加最大功率衰减的方法及装置有效
| 申请号： | 200910207625.4 | 申请日： | 2009-10-15 |
| 公开（公告）号： | CN102045755A | 公开（公告）日： | 2011-05-04 |
| 发明（设计）人： | 刘卫刚 | 申请（专利权）人： | 中兴通讯股份有限公司 |
| 主分类号： | H04W24/08 | 分类号： | H04W24/08;H04B17/00 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 王艺;龙洪 |
| 地址： | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种测量附加最大功率衰减的方法及装置，其中所述方法包括：发送模块向被测终端发送测试指示信号，被测终端根据测试指示信号发射上行信号；接收模块接收上行信号，测量被测终端的发射功率；若发射功率符合标准，则进一步测量被测终端的频谱发射参数；若频谱发射参数符合标准，则被测终端测试合格；若频谱发射参数不符合标准，则发送模块指示被测终端降低发射功率；接收模块测量频谱发射参数，若频谱发射参数符合标准，并且降低的发射功率在标准的附加最大功率衰减范围内，而且发射功率符合标准，则被测终端测试合格，否则，测试不合格。本发明能够高效地测量附加最大功率衰减。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 附加 最大 功率 衰减 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种测量附加最大功率衰减的方法，包括：发送模块向被测终端发送测试指示信号，被测终端根据接收到的测试指示信号发射上行信号；接收模块接收所述上行信号，并根据所述上行信号测量被测终端的发射功率；若被测终端的发射功率符合标准，则接收模块进一步根据所述上行信号测量被测终端的频谱发射参数；若所述频谱发射参数符合标准，则所述被测终端测试合格；若所述频谱发射参数不符合标准，则发送模块指示被测终端降低发射功率；接收模块测量频谱发射参数，若频谱发射参数符合标准，并且被测终端降低的发射功率在标准的附加最大功率衰减范围内，而且发射功率符合标准，则所述被测终端测试合格，否则，测试不合格。
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