[发明专利]数据处理电路中用于双层采样校正的系统和方法有效

专利信息
申请号: 200910205181.0 申请日: 2009-10-16
公开(公告)号: CN101968968A 公开(公告)日: 2011-02-09
发明(设计)人: N·R·阿拉温德;J·A·贝雷;R·H·莱奥诺维克 申请(专利权)人: LSI公司
主分类号: G11B20/18 分类号: G11B20/18
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 李向英
地址: 美国加*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明的各种实施例提供用于进行数据处理的系统和方法。例如,说明了一种数据处理电路,包括模拟-数字转换器、数字内插电路、相位误差电路,以及相位调节控制电路。模拟-数字转换器以至少部分地被粗调控制支配的采样相位对模拟数据进行采样,并提供数字样本系列。数字内插电路至少部分地基于微调控制在数字样本系列的子集之间进行内插。相位误差电路计算相位误差值。相位调节控制电路用于至少部分地基于相位误差值,确定粗调控制和微调控制。
搜索关键词: 数据处理 电路 用于 双层 采样 校正 系统 方法
【主权项】:
一种数据处理电路,所述电路包括:模拟‑数字转换器,其中,所述模拟‑数字转换器以至少部分地被粗调控制支配的采样相位对模拟数据输入进行采样,其中,模拟‑数字转换器提供数字样本系列;数字内插电路,其中,所述数字内插电路至少部分地基于微调控制在数字样本系列的子集之间进行内插;相位误差电路,其中,所述相位误差电路计算相位误差值;以及相位调节控制电路,其中,所述相位调节控制电路用于至少部分地基于所述相位误差值,确定所述粗调控制和所述微调控制。
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