[发明专利]数据处理电路中用于双层采样校正的系统和方法有效
| 申请号: | 200910205181.0 | 申请日: | 2009-10-16 |
| 公开(公告)号: | CN101968968A | 公开(公告)日: | 2011-02-09 |
| 发明(设计)人: | N·R·阿拉温德;J·A·贝雷;R·H·莱奥诺维克 | 申请(专利权)人: | LSI公司 |
| 主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
| 代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人: | 李向英 |
| 地址: | 美国加*** | 国省代码: | 美国;US |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 数据处理 电路 用于 双层 采样 校正 系统 方法 | ||
1.一种数据处理电路,所述电路包括:
模拟-数字转换器,其中,所述模拟-数字转换器以至少部分地被粗调控制支配的采样相位对模拟数据输入进行采样,其中,模拟-数字转换器提供数字样本系列;
数字内插电路,其中,所述数字内插电路至少部分地基于微调控制在数字样本系列的子集之间进行内插;
相位误差电路,其中,所述相位误差电路计算相位误差值;以及
相位调节控制电路,其中,所述相位调节控制电路用于至少部分地基于所述相位误差值,确定所述粗调控制和所述微调控制。
2.根据权利要求1所述的电路,其中,所述电路进一步包括:
数据处理电路,其中,所述数据处理电路接收来源于所述数字内插电路的数字数据输入,并提供经过处理的输出;以及
其中,所述相位误差电路接收来源于所述数字内插电路的所述数字数据输入和经过处理的输出,其中,所述相位误差电路至少部分地基于来源于所述数字内插电路的所述数字数据输入和所述经过处理的输出之间的差异,计算所述相位误差值。
3.根据权利要求1所述的电路,其中,所述相位调节控制电路包括粗调误差反馈电路和微调误差反馈电路,其中,所述粗调误差反馈电路至少部分地基于所述相位误差值产生所述粗调控制,并且其中,所述微调误差反馈电路至少部分地基于从粗调反馈信号提供的余值产生所述微调控制。
4.根据权利要求3所述的电路,其中,所述相位调节控制电路包括延迟调节电路,其中,所述延迟调节电路用于缩小应用所述粗调控制和应用所述微调控制之间的延迟差异的影响。
5.根据权利要求4所述的电路,其中,所述延迟调节电路包括低通滤波器和累加电路,其中,所述低通滤波器向累加元件提供所述微调控制的平均值,在该累加元件将所述平均值与所述相位误差值相加以产生修改过的误差值,并且其中,所述粗调反馈电路至少部分地基于所述修改过的误差值产生所述粗调控制。
6.根据权利要求4所述的电路,其中,所述延迟调节电路包括延迟电路,其中,所述延迟电路延迟向所述数字内插电路应用所述微调控制,以匹配向提供给所述数字内插滤波器的数据样本系列传播所述粗调控制时的任何延迟。
7.根据权利要求1所述的电路,其中,所述数字内插电路用于补偿由所述粗调控制中的变化所引起的两个数字样本系列子集之间的不连续性。
8.一种用于在数据处理系统中进行样本相位调节的方法,所述方法包括:
以至少部分地被粗调控制支配的采样相位执行模拟数据输入的模拟到数字的转换,其中,所述模拟到数字的转换产生数字样本系列;
执行数字样本系列的数字内插,其中,所述数字内插至少部分地基于微调控制在数字样本系列的子集之间进行内插,并且其中,所述数字内插提供一系列内插值;
对一系列内插值的衍生结果进行数据检测,以产生理想的输出;
至少部分地基于所述理想的输出和一系列内插值的衍生结果,计算相位误差;
至少部分地基于所述相位误差,更新所述粗调控制;
至少部分地基于所述相位误差,计算余值;以及
至少部分地基于所述余值,更新所述微调控制。
9.根据权利要求1所述的方法,其中,所述数据检测是从包括维特比算法检测处理和MAP检测处理的组中选择的。
10.根据权利要求1所述的方法,其中,更新所述粗调控制的过程包括当所述相位误差大于粗调步长的一半时,缩小所述粗调控制。
11.根据权利要求10所述的方法,其中,计算所述余值的过程包括从所述相位误差减去从粗调步长乘以粗调控制缩小的值。
12.根据权利要求1所述的方法,其中,更新所述粗调控制的过程包括当所述相位误差是负的并且所述相位误差的幅值大于粗调步长的一半时,增大所述粗调控制。
13.根据权利要求1所述的方法,其中,所述方法进一步包括:
限制可以对所述粗调控制进行的增量更改。
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