[发明专利]四端口射频器件射频参数测试方法

摘要

本发明公开了一种四端口射频器件射频参数测试方法，先设计四端口射频器件版图结构，将其中任意两个射频端口接地，然后采用二端口射频测试设备，将所述特定四端口射频器件版图结构另外两个端口作为射频测试的两个端口进行二端口测试，得到二端口射频S参数，基于上述二端口测试所得到射频S参数，推导得出四端口射频晶体管射频S参数。本发明的四端口射频器件射频参数测试方法成本低且简单方便。

主权项

一种四端口射频器件射频参数测试方法，四端口射频器件具有射频端口1、射频端口2、射频端口3、射频端口4四个端口，其特征在于，包括以下步骤：一.先设计四端口射频器件版图结构，将其中任意两个射频端口接地，接地的任意两个端口分别标示为射频端口3、射频端口4；二.采用二端口射频测试设备，将所述四端口射频器件版图结构另外两个端口射频端口1、射频端口2作为射频测试的两个端口进行二端口测试，得到二端口射频S参数，即S11_2P、S12_2P、S21_2P和S22_2P，Sij_2P是二端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2；j＝1，2)；三.基于上述二端口测试所得到的四个射频S参数，推导得出四端口射频晶体管射频S参数；进行推导的数学式如下：设射频端口1、射频端口2、射频端口3所对应的三端口射频S参数分别是：S11_3P、S12_3P、S13_3P、S21_3P、S22_3P、S23_3P、S31_3P、S32_3P和S33_3P，Sij_3P是三端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2，3；j＝1，2，3)，同时设射频端口1、射频端口2、射频端口3、射频端口4所对应的四端口射频S参数分别是：S11_4P、S12_4P、S13_4P、S14_4P、S21_4P、S22_4P、S23_4P、S24_4P、S31_4P、S32_4P、S33_4P、S34_4P、S41_4P、S42_4P、S43_4P和S44_4P，Sij_4P是四端口从端口i到端口j的传输系数(i＝1，2，3，4；j＝1，2，3，4)；S33_3P＝(S11_2P+S12_2P+S21_2P+S22_2P)/(4‑S11_2P‑S12_2P‑S21_2P‑S22_2P)；S32_3P＝((1+S33_3P)/2)*(1‑S12_2P‑S22_2P)；S23_3P＝((1+S33_3P)/2)*(1‑S21_2P‑S22_2P)；S22_3P＝S22_2P+(S23_3P*S32_3P)/(1+S33_3P)；S21_3P＝1‑S22_3P‑S23_3P；S12_3P＝1‑S22_3P‑S32_3P；S31_3P＝1‑S33_3P‑S32_3P；S13_3P＝1‑S23_3P‑S33_3P；S11_3P＝1‑S21_3P‑S31_3P；S44_4P＝(S11_3P+S12_3P+S13_3P+S21_3P+S22_3P+S23_3P+S31_3P+S32_3P+S33_3P‑1)/(5‑S11_3P‑S12_3P‑S13_3P‑S21_3P‑S22_3P‑S23_3P‑S31_3P‑S32_3P‑S33_3P)；S14_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S11_3P‑S12_3P‑S13_3P)；S24_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S21_3P‑S22_3P‑S23_3P)；S34_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S31_3P‑S32_3P‑S33_3P)；S41_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S11_3P‑S21_3P‑S31_3P)；S42_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S12_3P‑S22_3P‑S32_3P)；S43_4P＝0.5*(1+S44_4P)*(1‑S13_3P‑S23_3P‑S33_3P)；S11_4P＝(S14_4P*S41_4P)/(1+S44_4P)+S11_3P；S12_4P＝(S14_4P*S42_4P)/(1+S44_4P)+S12_3P；S13_4P＝(S14_4P*S43_4P)/(1+S44_4P)+S13_3P；S21_4P＝(S24_4P*S41_4P)/(1+S44_4P)+S21_3P；S22_4P＝(S24_4P*S42_4P)/(1+S44_4P)+S22_3P；S23_4P＝(S24_4P*S43_4P)/(1+S44_4P)+S23_3P；S31_4P＝(S34_4P*S41_4P)/(1+S44_4P)+S31_3P；S32_4P＝(S34_4P*S42_4P)/(1+S44_4P)+S32_3P；S33_4P＝(S34_4P*S43_4P)/(1+S44_4P)+S33_3P。