[发明专利]以对比度为特征帧匹配测量二维位移的方法及装置无效
| 申请号： | 200910190926.0 | 申请日： | 2009-09-22 |
| 公开（公告）号： | CN102022983A | 公开（公告）日： | 2011-04-20 |
| 发明（设计）人： | 曾艺;朱超平 | 申请（专利权）人： | 重庆工商大学 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 400067 重庆市南*** | 国省代码： | 重庆;85 |
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| 摘要： | 以对比度为特征帧匹配测量二维位移的方法及装置，由一个计算机摄像头与一台普通的计算机组成；先在参考帧内提取一个轴向的边方向数据，作为被测物体反射图像的对比度特征，通过计算该边方向数据的自关联系数，查看被测物反射面的质地细节，选取合适的比较窗像素阵列；然后与取样帧进行边方向数据的交叉关联匹配计算，以交叉关联系数最大者作为最佳匹配者，获得二维位移以及速度；据此结果，调整比较窗的位置或更新参考帧，并调整交叉关联算子阵列的规模，保证了测量精度，减少了计算量，在一定程度上克服了环境光照变化对测量的影响。 | ||
| 搜索关键词： | 对比度 特征 匹配 测量 二维 位移 方法 装置 | ||
【主权项】：
以对比度为特征帧匹配测量二维位移的方法及装置，由一个计算机摄像头与一台普通的计算机组成，所述摄像头通过其USB接口连接到所述计算机，该计算机配置有USB接口、内存、CPU、硬盘、显示卡与显示器、键盘和鼠标、操作系统以及摄像头驱动程序，其特征在于，所述计算机系统还配置有摄像头拍摄及边方向数据帧匹配测量位移程序。
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