[发明专利]一种二维电磁探头及旋磁检测方法无效
| 申请号： | 200910183574.6 | 申请日： | 2009-09-23 |
| 公开（公告）号： | CN101666778A | 公开（公告）日： | 2010-03-10 |
| 发明（设计）人： | 帅立国 | 申请（专利权）人： | 帅立国 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72;G01N27/90 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 210046江苏省南京市南*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明为一种用于金属材料无损检测和评估的二维电磁探头及旋磁检测方法。该电磁探头包括探头体1、探测线圈2、探测线圈3、接线端口4。其特征在于每组探测线圈均包括一对励磁线圈和一对检测线圈，合理调整各组线圈的励磁电流，可以为二维旋磁检测提供大小恒定的平面旋转磁场。旋磁检测得到的结果经处理可生成与被检工件相似的类似形，材质异常表现为类似形上明显的外凸或凹陷，使金属材料的材质分布特征一目了然，从而帮助检测人员对被检工件的质量进行快速评估。本发明不仅能够用于成分、机械性能和组织均匀性的检测和评估，而且能够对裂纹等组织异常进行预警。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 二维 电磁 探头 检测 方法 | ||
【主权项】：
1、一种二维电磁探头即旋磁检测方法，其特征在于电磁探头包括探头体1、探测线圈2、探测线圈3、接线端口4。其中，探测线圈2和探测线圈3为镶嵌于探头体1内部，且探测线圈2位于探头体1的上方，探测线圈3位于探头体1的侧边，接线端口4位于探头体1的侧下方。探测线圈2和探测线圈3相互垂直并相交于一点。探测线圈2和探测线圈3中各包括一对励磁线圈和一对检测线圈。
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