[发明专利]标本分析仪有效
| 申请号： | 200910180077.0 | 申请日： | 2009-10-26 |
| 公开（公告）号： | CN101726609A | 公开（公告）日： | 2010-06-09 |
| 发明（设计）人： | 福间大吾;长井孝明;芝田正治 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N35/00 | 分类号： | G01N35/00;G01N21/49;G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种标本分析仪，包括：制样器，用于制备或再次制备含标本和试剂的测定试样；第一检测器，用于检测所述制样器制备的测定试样中的一定成份；第二检测器，用于检测所述制样器再次制备的测定试样中的所述一定成份；及为实施以下操作而配备的控制器：(a)控制所述第一检测器检测所述制样器制备的测定试样中的所述一定成份；(b)判断所述第一检测器检出的结果是否可信；(c)当判断不可信时，控制所述述制样器基于同一所述标本再次制备测定试样；及(d)控制所述第二检测器检测所述再次制备的测定试样中的所述一定成份。本发明还提供一种标本分析仪，用不同于第一检测条件的第二检测条件检测再次制备的测定试样中的一定成份。 | ||
| 搜索关键词： | 标本 分析 | ||
【主权项】：
一种标本分析仪，包括：制样器，用于制备或再次制备含有标本和试剂的测定试样；第一检测器，用于检测由所述制样器制备的测定试样中的一定成份；第二检测器，用于检测由所述制样器再次制备的测定试样中的所述一定成份；及控制器，为实施以下操作而配备：(a)控制所述第一检测器检测所述制样器制备的测定试样中的所述一定成份；(b)判断所述第一检测器检出的结果是否可信；(c)当判断不可信时，控制所述制样器基于同一所述标本再次制备测定试样；及(d)控制所述第二检测器检测所述再次制备的测定试样中的所述一定成份。
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