[发明专利]低压配电装置温升检测方法无效
申请号: | 200910177559.0 | 申请日: | 2009-09-15 |
公开(公告)号: | CN102023255A | 公开(公告)日: | 2011-04-20 |
发明(设计)人: | 郑程遥;刘峰 | 申请(专利权)人: | 深圳市宝安任达电器实业有限公司 |
主分类号: | G01R19/25 | 分类号: | G01R19/25;G01K7/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 周建秋 |
地址: | 518000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供了一种低压配电装置温升检测方法,通过初始化设定、连接采样设备、电流信号采样、获取配电装置有效散热面积、获取低压配电装置外壳半高处的空气温度、获取低压配电装置外壳全高处的空气温度从而最终得出低压配电装置温升值,且该方法通过检测能力强的电流互感器CT将低压配电装置中导体流经的母排电流引入,引入的电流信号经数模A/D转换后送入检测系统中,由检测系统把复杂繁琐的检测、计算简单化从而完成相应温升的检测,且该方法还可应用于低压配电装置温升的实时监测,检测结果符合相应行业标准,满足了时下低压配电装置运作过程中的温升监测需要。 | ||
搜索关键词: | 低压 配电装置 检测 方法 | ||
【主权项】:
一种低压配电装置温升检测方法,其特征在于:它包括步骤A)、初始化设定,于数据库中输入低压配电装置参数信息,包括外壳尺寸,长×宽×高外壳安装形式外壳是否带通风口及通风口截面积外壳内装设备的有效功率损耗P设备与外壳内装导体通过的母排电流对应相关的导体有效功率损耗P导体值列表外壳内有效功率损耗P,P=P设备+P导体低压配电装置内部水平隔板数量n与外壳是否带通风口及通风口截面积、外壳安装形式、外壳有效散热面积Ae对应相关的低压配电装置温度分布系数c值列表与外壳是否带通风口及通风口截面积、其有效散热面积Ae对应相关的低压配电装置外壳常数K值列表与低压配电装置外壳是否带通风口、外壳有效散热表面Ae及低压配电装置内部水平隔板数量n对应相关的低压配电装置外壳系数d值列表与低压配电装置外壳是否带通风口对应相关的指数X值列表;B)、连接采样设备,于低压配电装置中设置电流采样设备,并将采样信号接入检测系统中;C)、电流信号采样,电流采样设备将低压配电装置中母排电流引入检测系统;D)、获取配电装置有效散热面积,根据公式Ae=∑(A0×b)计算得出对应低压配电装置的有效散热面积,式中Ae为低压配电装置有效散热面积,A0为对应设定外壳长/宽/高尺寸算出的外壳各表面面积;E)、获取低压配电装置外壳半高处的空气温度1、由低压配电装置外壳是否带通风口及通风口截面积、步骤D中所得有效散热面积Ae于数据库的外壳常数K值列表中查出对应外壳常数K;2、由低压配电装置外壳是否带通风口、步骤D中所得有效散热表面Ae以及水平隔室的数量n于数据库的外壳系数d值列表中查出对应外壳系数d;3、由低压配电装置外壳是否带通风口,于数据库的指数X值列表中查出对应指数X;4、由步骤C采样得的母排电流值,于数据库的导体有效功率损耗P导体值列表中查出对应P导体值,并根据公式P=P设备+P导体算出外壳内有效功率损耗P;5、将步骤E1‑E4所查取的外壳常数K、外壳系数d、外壳内有效功率损耗P及指数X带入公式Δt0.5=K×d×PX,得出配电装置半高度处温升;F)、获取低压配电装置外壳全高处的空气温度1、由与外壳是否带通风口及通风口截面积、外壳的安装形式及步骤D中所得外壳有效散热面积Ae于数据库的低压配电装置温度分布系数c值列表中查出对应温度分布系数c;2、将步骤E4、F1所获得的配电装置半高度处温升Δt0.5及温度分布系数c带入公式Δt1.0=c×Δt0.5得出配电装置全高度处温升Δt1.0G)、得出低压配电装置温升值,根据有效散热面积Ae选取最终低压配电装置温升值Δt0.75当Ae>1.25m2时: Δt 0.75 = Δt 0.5 + Δt 1.0 2 ; 当Ae≤1.25m2时:Δt0.75=Δt1.0。
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