[发明专利]光盘检查装置及检查方法有效
申请号: | 200910173262.7 | 申请日: | 2009-09-22 |
公开(公告)号: | CN101727945A | 公开(公告)日: | 2010-06-09 |
发明(设计)人: | 上野圭司 | 申请(专利权)人: | 蒂雅克股份有限公司 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 | 代理人: | 谢丽娜;关兆辉 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种光盘检查装置及检查方法,迅速检查光盘是否有缺陷,以保证在多种光盘装置中能够重放。检测部(52)利用来自重放部(50)的信号,根据RF信号、聚焦错误信号、跟踪错误信号,从光盘的内周向着外周分别检测缺陷。CPU(54)在存储器(56)中存储缺陷的位置。重放部(50)在缺陷的位置使重放条件劣化而重放数据。检测部(52)检查此时的错误率,最终判断光盘的OK/NG。 | ||
搜索关键词: | 光盘 检查 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种光盘检查装置,检查光盘的缺陷,其特征在于,具有:缺陷检测单元,从光盘的内周到外周检测上述光盘的缺陷;存储单元,存储检测出的上述缺陷的位置;以及错误率检测单元,在上述缺陷的位置使重放条件劣化,而从上述光盘重放数据并检测错误率。
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