[发明专利]侦测盘片上缺陷信号的方法及装置

摘要

本发明提供一种侦测盘片上缺陷信号的方法及装置，其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制，在侦测状态时，当多个缺陷侦测信号超过门槛值时，将侦测计数器设定为预设值，有限状态机进入ARM状态；在ARM状态时，当侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时，有限状态机进入KICK状态；在KICK状态时，第一旗标信号FE_XDFCT或第二旗标信号TE_XDFCT被设置，当侦测计数器计数至0时，有限状态机进入WAIT状态；在WAIT状态时，当侦测计数器计数至第三预设值时，有限状态机进入该侦测状态；其中，当第一旗标信号FE_XDFCT或第二旗标信号TE_XDFCT被设置时，伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。

主权项

一种侦测盘片上缺陷信号的方法，其使用有限状态机以对光驱的伺服系统进行控制，该方法包含：(A)在侦测状态时，当多个缺陷侦测信号超过门槛值时，将侦测计数器设定为预设值，该有限状态机进入ARM状态；(B)在前述ARM状态时，当该侦测计数器计数至第一预设值或第二预设值时，该有限状态机进入KICK状态；(C)在前述KICK状态时，第一旗标信号或第二旗标信号被设置，当该侦测计数器计数至0时，该有限状态机进入WAIT状态；以及(D)在前述WAIT状态时，当该侦测计数器计数至第三预设值时，该有限状态机进入该侦测状态；其中，当该第一旗标信号或该第二旗标信号被设置时，该伺服系统的对应控制信号维持为可编程的固定电压。